间接式平板探测器系统在不同X射线束质下的曝光指数与影像噪声特性研究

为解决数字放射摄影(DR)系统中曝光指示器(EI)因厂商差异导致的标准化难题，研究人员针对间接式平板探测器，通过添加铝滤片(RQA3/5/7/9)探究了不同X射线束质下EI值与影像噪声(Wiener谱)的关系。结果显示：EI值均与探测器入射剂量成正比，但RQA3的EI值表现异常；相同EI时，RQA3因更高剂量呈现略低的噪声谱。该研究为DR系统剂量-噪声关系的束质依赖性提供了重要依据。

　　

在数字放射摄影(DR)领域，各厂商的灵敏度指数(又称曝光指示器)存在显著差异。国际电工委员会(IEC)为此推出标准化曝光指数(EI)，该数值与成像探测器入射剂量直接相关，能反映曝光剂量水平和影像噪声特征。随着技术进步，部分DR系统已实现曝光后即时显示EI值。

这项研究聚焦间接式平板探测器系统，通过添加不同厚度铝滤片构建四种X射线束质(RQA3、RQA5、RQA7和RQA9)，系统分析了EI显示值与影像噪声特性。实验发现：所有束质条件下，EI值均随探测器入射剂量增加而线性上升，但RQA3束质的EI值在相同剂量下明显偏离其他束质组。

研究人员采用Wiener谱(WS)量化影像噪声，揭示出有趣现象：当EI值相近时，具有最高入射剂量的RQA3束质，其噪声谱水平反而略低于其他束质组。这些发现证实，DR系统中EI显示值与影像噪声的关联性会随X射线束质变化而产生显著波动，为优化临床放射摄影参数选择提供了关键理论支撑。