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业报–正法优化器:一种具有记忆自适应能力的透明元启发式算法及其在约束VLSI设计中的应用
《Scientific Reports》:A memory-adaptive Karma–Dharma optimizer for global optimization and VLSI design
【字体: 大 中 小 】 时间:2026年10月03日 来源:Scientific Reports 4.9
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摘要尽管许多近期的元启发式算法依赖于精心构建的生物或物理隐喻,但其底层的数学机制往往仍然晦涩难明。本文提出了一种业报–正法优化器(Karma–Dharma Optimizer, KDO),这是一种具有透明度且具备记忆自适应能力的元启发式算法,专为连续和约束工程优化问题而设计。
尽管许多近期的元启发式算法依赖于精心构建的生物或物理隐喻,但其底层的数学机制往往仍然晦涩难明。本文提出了一种业报–正法优化器(Karma–Dharma Optimizer, KDO),这是一种具有透明度且具备记忆自适应能力的元启发式算法,专为连续和约束工程优化问题而设计。KDO融合了两个互补的阶段:一个利用历史成功归档(正法算子,Dharma Operator)的记忆引导探索阶段,以及一个结构化的开发阶段(业报算子,Karma Operator)。此外,还引入了一种自适应停滞恢复机制,称为"涅槃重置"(Nirvana Reset),以帮助搜索逃离局部停滞区域。KDO的全局搜索能力和维度可扩展性在CEC-2017和CEC-2022基准测试套件上进行了广泛评估,维度最高达\(D=50\)。此外,KDO被应用于四个约束的模拟、射频和超大规模集成电路(VLSI)设计问题:两级Miller运算放大器、射频CMOS共射共基低噪声放大器(LNA)、低相位噪声LC压控振荡器(VCO)以及6T FinFET静态随机存取存储器(SRAM)单元。这些电路在两种评估框架下进行了测试:闭式解析代理模型,以及一个自动化的、物理驱动的MATLAB–ngspice联合仿真框架,该框架考虑了工艺–电压–温度(PVT)变化和蒙特卡洛良率约束。非参数统计分析结合组件级消融研究,揭示了KDO具有问题依赖性的性能特征。KDO在约束的超大规模集成电路设计问题上,在解析评估和物理评估两种条件下均取得了最佳的整体排名,同时在标准化的CEC基准测试上与强大的数学优化器(差分进化,DE;群体爆炸优化,GBO)保持竞争力。