基于定制扫描单元与事件驱动电子探测的时间分辨光谱技术革新

【字体: 时间:2025年10月12日 来源:Micron 2.2

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  本综述重点介绍了Timepix3事件驱动型电子探测器与定制扫描单元(SU)的集成创新,通过实现纳米级时空分辨率(如电子能量损失谱EELS和阴极发光CL技术),突破了连续电子枪扫描透射电镜(STEM)在动态观测中的技术瓶颈,为电子显微学在材料与生命科学领域提供了全新的研究范式。

  
亮点
Timepix3与扫描单元集成
商用扫描单元(SU)通常配备至少一个输入逻辑引脚,可与电子探测器实现帧同步实验。这种模式常用于超光谱成像和4D-STEM等技术。在传统帧驱动实验中,探测器作为主导设备,在完成一帧采集后触发探针移至下一个像素点,扫描单元则作为跟随者控制电子探针。然而——
电子-光子协同检测
光学光谱学中常见的技术是光致发光激发谱(PLE)。它通过可调谐激光激发样品并记录发射光谱,从而追踪特定能量吸收产生光激发到不同能量发射的路径。除提供物理机制洞察外,PLE是测量材料量子效率等重要应用的首选技术。而基于电子激发的类似技术——
连续电子枪电镜中的光注入实验
通过将电子能量损失谱(EELS)电子与阴极发光(CL)光子的关联原理反转,可实现注入激光光子与EELS电子的同步实验(图2D)。借此可进行电子能量增益谱(EEGS)实验,这是光子诱导近场电子显微镜(PINEM)的光谱解析版本。在PINEM中,亚皮秒激光与电子脉冲共同照射样品——
展望
我们近期研究指出,Timepix3在电子显微镜中的终极时间分辨率问题具有多面性(Auad等,2024)。这包括传感器层的物理特性(如厚度与偏置电压)、专用集成电路的模拟与数字部分(如前置放大器电路的工作机制及电子到达时间(ToA)的判定方式)。特别是在电子显微镜应用中——
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