从微米到纳米再到原子尺度，用于亚微观结构表征的技术方法概述

《Chemical Communications》：Overview of the characterization technique groups for submicroscopic structures from the micro-nano to atomic scale

本文系统综述了微纳米至原子尺度功能固体的子微结构表征技术，涵盖形貌、晶体结构、化学组成等物理化学方法，并重点探讨了在位表征技术对动态结构演化的追踪作用，为材料研发提供综合技术参考。

　　

结构表征在化学和材料科学研究中至关重要，尤其是从微观到纳米再到原子尺度的亚微观表征。这是一种强大的基础工具，用于研究和理解材料的性质和功能，并建立结构-活性关系。本综述详细介绍了基于材料结构主要方面的先进亚微观表征技术，涵盖了物理和化学两个方面，如形态、孔结构、晶体结构、化学组成、氧化态、配位结构以及电子结构等，这些技术主要利用扫描电子显微镜（SEM）、交流扫描透射电子显微镜（AC-STEM）、表面吸附、X射线衍射（XRD）、能量色散光谱（EDS）、X射线吸收光谱（XPS）、X射线吸收荧光光谱（XAFS）、电子能量损失谱（EELS）、核磁共振（NMR）和穆斯堡尔谱（M?ssbauer spectroscopy）等仪器来实现。为了追踪上述结构在各种应用过程中的动态变化，文中还广泛讨论了“原位”或操作过程中的表征方法和设备。将这些技术归纳为几个协调一致的组别，不仅为化学、材料科学和能源领域的研究人员提供了全面的参考资料，还为新型功能材料的发现奠定了技术基础。