新型Eu3+掺杂硼锗酸钆玻璃的X射线闪烁性能优化及成像应用研究

【字体: 时间:2025年07月25日 来源:Radiation Physics and Chemistry 2.8

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  研究人员针对晶体闪烁体制备复杂、成本高昂的问题,开发了Eu3+掺杂硼锗酸钆玻璃(Eu:GdBGe)新型闪烁材料。通过系统调控Eu2O3浓度(0-9 mol%),发现5 mol%掺杂样品具有最优性能:密度/折射率提升,615 nm红光发射强度最高(衰减时间1.58 ms),X射线积分效率达BGO晶体的32%。该材料在静态X射线成像中展现出与YAG:Ce晶体相当的成像质量,为低成本辐射探测提供了新方案。

  

在医学影像诊断和工业无损检测领域,X射线探测技术对闪烁体材料提出严苛要求。传统Bi4Ge3O12(BGO)等晶体虽性能优异,但存在制备工艺复杂、成本高昂的瓶颈。相比之下,玻璃闪烁体因制备简单、可大尺寸成型等优势备受关注,但其发光效率与成像分辨率亟待提升。针对这一挑战,泰国那空帕农皇家大学(Nakhon Pathom Rajabhat University)联合清迈大学的研究团队创新性地设计了一系列Eu3+掺杂硼锗酸钆玻璃(25Gd2O3-35B2O3-(40-x)GeO2-xEu2O3),系统探索了其结构-性能关系,相关成果发表于《Radiation Physics and Chemistry》。

研究采用熔融淬冷法制备玻璃样品,通过FTIR、XPS解析结构特征,结合密度/折射率测试、光致发光(PL)、阴极发光(CL)和X射线激发发光(XEL)等多模态光谱分析,并首次开展X射线成像实验验证。关键发现包括:1)5 mol% Eu2O3掺杂样品呈现最优性能,其615 nm红光发射源自5D07F2跃迁;2)Gd3+→Eu3+能量转移与O2?→Eu3+电荷转移协同增强发光;3)X射线成像显示其分辨率接近YAG:Ce晶体,但需更长曝光时间。

玻璃制备:采用高纯原料(Gd2O3/H3BO3/GeO2/Eu2O3)通过1500℃熔融淬冷获得透明玻璃,经退火消除内应力后加工成测试样品。

结构特性:FTIR证实玻璃网络以BO3/BO4为主要结构单元,XPS显示1-3 mol%样品具有更优的原子连接性。密度随Eu含量增至5.21 g/cm3(9Eu),折射率达1.78。

发光机制:三价铕离子的特征发射占主导,5Eu样品PL强度最高,衰减时间1.58 ms符合电偶极跃迁特征。Gd3+6P7/2→Eu3+能量转移效率达42.3%,显著提升XEL性能。

成像应用:积分效率达BGO的32%,成像实验证实其可清晰分辨0.5 mm铅缝,但对比度低于晶体闪烁体。

该研究开创性地将硼锗酸盐玻璃的低声子能量(~900 cm-1)与Gd3+敏化效应相结合,解决了传统玻璃闪烁体效率低的关键问题。其开发的材料体系不仅为静态X射线成像提供了低成本替代方案,更通过组分-结构-性能的精准调控策略,为新型功能玻璃设计提供了范式。未来通过优化玻璃组分与制备工艺,有望在动态成像领域实现突破。

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