综述:基于氧化镓的先进日盲和X射线光电探测器

【字体: 时间:2025年08月15日 来源:Advanced Photonics Research 3.9

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  这篇综述系统总结了宽禁带半导体Ga2O3在紫外(UV)和X射线探测领域的最新进展,重点分析了不同器件结构(MSM、p-n结、雪崩、光电晶体管)的性能参数(响应度R、比探测率D*、灵敏度)及其增益机制,指出光电晶体管和雪崩器件可实现107 A W?1的高响应度,而Ga2O3异质结X射线探测器灵敏度达109 μC Gyair?1 cm?2,为辐射探测提供了新材料范式。

  

材料特性与探测原理

作为超宽禁带(4.6-5.3 eV)半导体,Ga2O3的截止波长(234-270 nm)完美匹配日盲紫外波段(200-280 nm)。其高密度(6.44 g cm?3)和强X射线衰减能力使其对硬X射线的吸收效率比SiC、金刚石等材料高出一个数量级。材料本征的氧空位缺陷虽导致n型导电性,但通过氟等离子体表面钝化或氮/镁掺杂可显著降低暗电流至pA级。

器件结构与性能突破

金属-半导体-金属(MSM)探测器:采用AgNW网络电极的β-Ga2O3肖特基结器件在254 nm光照下实现14.7 mA W?1响应度,响应时间快至20 μs。ε相Ga2O3因六方晶格匹配氮化物衬底,其MSM阵列的探测率高达1.2×1015 Jones。

异质结光伏器件:p型CuMO2(M=Ga,Cr)/Ga2O3结构通过能带裁剪实现自供电运行,开路电压达0.8 V。有机空穴传输材料TAPC与Ga2O3形成的界面使光电流开关比提升至5.9×105

雪崩探测器:SiO2/Ga2O3金属-氧化物-半导体(MOS)结构在-200 V偏压下产生3.9×103 A W?1的超高增益,源于耗尽区碰撞电离效应。独特的β-Ga2O3/SiO2/SiC异质结通过界面调控隧穿效应,实现双向整流特性与8.8×106开关比。

X射线探测新机制

冷阴极设计利用电子束诱导初级电流(EBIPC)效应,在真空屏障中分三阶段增强信号:光电效应(低偏压)→光电导增益(中偏压)→次级电子倍增(高偏压)。Ga2O3衍生物探测器对100 keV X射线的灵敏度达109 μC Gyair?1 cm?2,其辐射硬度经1.6 MGray伽马辐照后仍保持阈值电压稳定。

挑战与展望

当前性能瓶颈在于p型掺杂效率低与深能级陷阱导致的持续光电导(PPC)效应。未来方向包括:① 通过Al2O3钝化降低界面态密度;② 开发Mg/N共掺杂工艺调控载流子浓度;③ 利用铁电材料HfZrO2的极化场增强电荷分离效率。这些进展将推动Ga2O3探测器在导弹预警、医学成像等领域的实用化进程。

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