研究者找到芯片毛细管电泳问题的原因

　　

由于压力作用和离子损耗引起的流动液流的微妙变化，可能会是芯片毛细管电泳中出现的一定的不规则现象的根本原因。在本周的世界BioMEMS和生物医学纳米技术2000年大会报告了这项研究的结论。

Micralyne有限公司的研究者H.John Crabtree在大会上介绍，之前对于影响芯片电泳系统的可信度的各种因素所作的研究几乎没有。但是在与Alberta大学的电子工程师Christopher J. Backhouse的合作中，他至少发现了一些为什么这样的系统会被破坏的原因。

据Crabtree说，通常微量电泳系统最大的弱点是电渗流，为了注入及分离各种成分，电渗流将液体从各个不同的端口泵过20微米深的泳道。他说在他的研究中表明最大高度，性状，非对称性，点泳时间，和基线漂移都受到芯片上样品孔中液面哪怕是“极微小”的误差（0.5mm）的影响。他补充说，芯片和泳道的设计也会很大地影响误差。

——摘译自NEWS&ANALYSIS@medical design online