原子光谱技术前沿进展：金属、化学品与功能材料分析方法的创新与挑战

本期推荐原子光谱技术年度综述，聚焦2024年6月至2025年4月间的最新进展。研究人员系统评述了金属、聚合物、电子与纳米材料的原子光谱分析策略，重点突破LIBS和TOF-SIMS的数据处理瓶颈，通过多步骤机器学习算法实现精准定量；整合联用技术实现同点位多模态分析；加速纳米标准物质（CRM/RM）研发以推动方法验证；表面分析以XPS、GIXRF、GEXRF和TOF-SIMS为主导，体相分析则依托ICP-MS、XRF和LIBS；同步发展样品前处理与微萃取技术拓展激光光谱应用边界。

　　

这篇更新综述涵盖了2024年6月至2025年4月期间发表的文献，作为年度系列的最新部分，旨在为读者提供原子光谱分析在金属、聚合物、电子材料、纳米材料及其他功能材料领域的最新进展全景。数据处理仍是激光诱导击穿光谱（LIBS）和飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）的核心焦点，主要通过多种机器学习算法与统计方法实现可靠 analyte 定量分析——这些方法虽已应用多年，但正不断拓展至新领域。另一项进展是同一仪器平台上整合互补技术，实现同点位同步多技术数据采集。聚合物与纳米材料分析持续发展，主流平台包括单颗粒电感耦合等离子体质谱（SP-ICP-MS）、单颗粒飞行时间质谱（SP-ICP-TOF-MS）及X射线技术。此外，纳米标准参考物质（CRM）和参考物质（RM）的研制正在加速，以解决长期以来缺乏可靠标准物阻碍方法验证的难题。电子材料表面与深度分析仍以X射线光电子能谱（XPS）、掠入射X射线荧光（GIXRF）、全反射X射线荧光（GEXRF）和TOF-SIMS为主，体相组成分析则依赖LIBS、电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）和X射线荧光（XRF）。该领域工作还聚焦发展先进样品前处理与微萃取技术，以拓展激光光谱的应用范围。