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太赫兹时域光谱技术无损评估食用蛋与受精蛋蛋壳厚度及光学与介电特性研究
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年10月10日 来源:Scientific Reports 3.9
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为解决蛋壳厚度无损检测及品质评估难题,研究人员采用太赫兹时域光谱(THz-TDS)技术开展蛋壳光学与介电特性研究。首次测得食用蛋与受精蛋在0.1-3.0 THz频段的折射率、吸收系数及介电常数实部与虚部,发现两者在光学参数上存在显著差异。该技术为禽蛋产业质量控制和胚胎发育研究提供了新方法。







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