降低唇腭裂术后瘘管发生率：1041例手术的技术分析与风险因素研究

《Plastic and Reconstructive Surgery》：Bridging the Gap: Telemedicine and Remote Consultation in Plastic Surgery—Addressing Regulatory Barriers and Equity in Access

本研究针对腭裂修复术后常见并发症——瘘管形成问题，由资深外科医生团队通过对1041例连续手术病例的回顾性分析，发现术后瘘管发生率低至0.86%。研究首次明确直线修复术式（OR=19）与Veau 4型裂（OR=2.88）是主要风险因素，而Furlow腭成形术组零瘘管发生。该系列为降低术后瘘管提供了关键技术规范。

　　

^引言 瘘管形成是腭裂修复术后值得关注的主要并发症。本研究报道了同类规模患者队列中最低的术后瘘管发生率，通过该系列病例可阐述降低瘘管发生率的核心理念与关键技术。

^方法 研究回顾性分析了由单一外科医生连续完成的1041例腭裂修复手术的前瞻性数据。统计了术后瘘管发生率（定义为除故意未修复的牙槽裂外的所有口鼻交通）。采用回归分析明确影响瘘管发生的风险因素。

^结果 9例患者出现术后瘘管（0.86%）。所有瘘管均发生于直线修复组（n=882），而Furlow腭成形术组（n=159）无瘘管发生。Veau分型（OR=2.88, p=0.04）与颊肌黏膜瓣（Buccal Myomucosal Flaps）使用（OR=19, p=0.02）与瘘管发生显著相关。9例瘘管患者中5例为Veau 4型裂。

^结论 本研究通过大样本系列证实了优于文献报道的瘘管控制效果。作者系统阐述了降低术后瘘管发生的关键技术体系：规范术前评估、精细组织操作、张力最小化原则及周密术后管理，并附有详细手术视频演示。

^通俗摘要 本研究分析了单位外科医生实施的1041例腭裂修复术，重点关注术后瘘管这一常见并发症。结果显示瘘管发生率仅0.86%，显著低于常规报道。所有瘘管均出现在直线修复术式患者，而Furlow腭成形术组零发生。Veau分型裂隙与颊肌黏膜瓣使用会增加瘘管风险。研究强调了通过术前精准评估、术中张力控制及术后精细护理等技术要点可有效降低瘘管发生。