单外科医生千例腭裂修复术：降低术后瘘管发生率的原理与技术探索

《Plastic and Reconstructive Surgery》：Principles and techniques to reduce the incidence of fistula: a review of over 1000 cleft palate repairs by a single surgeon

本研究针对腭裂修复术后常见并发症——瘘管，由研究人员系统回顾了单外科医生完成的1041例手术。结果显示术后瘘管发生率仅为0.86%，显著优于文献报道。研究发现Furlow palatoplasty术式、Veau分型及颊肌粘膜瓣应用与瘘管发生风险显著相关，为优化手术方案提供了重要依据。

　　

引言：

瘘管形成是腭裂修复术后值得关注的并发症。本研究报道了同类规模患者队列中最低的术后瘘管发生率。通过该系列病例，我们将阐述有助于降低瘘管发生率的核心技术原理。

方法：

本研究对单外科医生连续完成的1041例腭裂修复术进行前瞻性数据回顾。统计术后瘘管发生率（定义为除故意未修复的牙槽裂外的任何口鼻相通）。采用回归分析探究影响瘘管发生的风险因素。

结果：

9例患者出现术后瘘管，发生率为0.86%。所有瘘管均发生于直线修复术患者（n=882），而Furlow palatoplasty术式患者无一例发生瘘管（n=159）。Veau分型（OR=2.88，p=0.04）与颊肌粘膜瓣应用（OR=19，p=0.02）与瘘管发生风险显著相关。9例瘘管患者中5例为Veau 4型腭裂。

结论：

本大样本系列研究显示的瘘管发生率优于已发表文献。作者提出降低术后瘘管率的核心原则：规范术前管理、组织精细操作、张力最小化及周密术后护理。文中附有详细手术视频说明。

通俗摘要：

本研究回顾单外科医生1041例腭裂手术，重点关注术后瘘管发生率。结果显示仅0.86%患者发生瘘管，显著低于常规报道。所有瘘管均出现于直线修复术，Furlow palatoplasty术式患者零发生。Veau型腭裂与颊肌粘膜瓣应用会增加瘘管风险。研究强调通过精细术前术后管理及组织张力控制等技术可有效降低瘘管发生。