用于快速评估有机发光二极管显示器薄膜和窗盖基底表面能的新方法

《Langmuir》：Novel Method for the Rapid Evaluation of the Surface Energies on Film and Window Cover Substrates for Organic Light-Emitting Diode Displays

提出一种新型表面能快速评估方法SEMM，通过垂直和倾斜成像同步捕捉大区域多滴液，显著缩短测量时间，并修正高接触角区域误差，经多种表面验证准确有效。

　　

目前尚无任何方法能够快速、定量地评估有机发光二极管显示器薄膜及窗盖基材上大面积抗指纹纳米涂层的沉积状态。为解决这一难题，我们提出了一种新的方法——表面能映射与测量（SEMM）技术，用于实现超快的沉积状态评估。SEMM技术结合了垂直成像和倾斜成像方式，能够同时捕捉并分析覆盖在大面积表面的多个液滴。与传统侧视成像方法相比，该方法所需的测量时间显著缩短。此外，对于接触角（CA）较大的区域（>90°），SEMM通过倾斜观测来校正液滴的视高度，从而保持测量的准确性。本文全面介绍了SEMM技术的原理、硬件配置、图像处理技术、计算接触角和表面能的算法，以及在不同表面样品上进行的验证实验结果。