扫描隧道显微镜探针与表面之间的原子和分子迁移

《ACS Nano》：Atom and Molecule Migrations between Scanning Tunneling Microscopy Tips and Surfaces

低温扫描隧道显微镜直接可视化纳米连接处的原子迁移和银簇结构，明确原子数目与电导关系的结构关联性，为单分子器件可靠性提供新方法。

　　

在纳米级结中，化学键的断裂与形成对单分子电子学具有基础性意义。直接观察结的结构对于揭示结构变化以及建立结构与导电性之间的原子级关联至关重要。在此研究中，我们使用低温扫描隧道显微镜来观察隧道结中原子和分子的迁移过程。通过操控探针，在Ag(111)表面上构建了四种不同类型的银簇，每种银簇分别包含1至4个银原子。使用经过改性的银（Ag）和碳60（C₆₀）探针与这些银簇建立接触，并通过后续成像技术明确地检测到了原子和分子的迁移情况。这种方法明确了这些结的结构与其导电性之间的关系，从而为理解结破裂过程中的结构变化提供了重要见解，这对于开发可靠的单分子器件具有重要意义。