在一个多样化的小麦样本中，针对Septoria nodorum叶斑病和褐斑病的抗性进行的全基因组关联分析

《Molecular Breeding》：Genome-wide association mapping for resistance against Septoria nodorum blotch and tan spot in a diverse wheat panel

小麦两种病害SNB和TS的抗性GWAS分析揭示染色体5B邻近Tsn1基因存在SNB抗性标记，TS抗性主要位于7B染色体20Mb区间，并发现多个染色体上的QTL，为育种提供理论依据。

　　

摘要

叶斑病（Septoria nodorum blotch, SNB）和褐斑病（tan spot, TS）是两种对小麦具有全球性影响的叶部疾病，会显著降低小麦的产量和籽粒品质。本研究采用包含150个品系的精英多样性panel，进行了全基因组关联分析（genome-wide association study, GWAS），以识别与SNB和TS抗性相关的遗传位点。在温室实验中，于幼苗阶段对抗性进行了评估，每种疾病设置了两个重复组。对于SNB，大多数品系表现出良好的抗性水平，其中53%被评定为抗性或中等抗性（R/MR）。同样，对于TS，60%的品系也表现出R/MR抗性。部分品系对SNB和TS都具有高抗性。该品系集使用Illumina Infinium 25 K BeadChip进行了基因分型。GWAS分析发现5B染色体上存在多个与SNB抗性相关的显著标记-性状关联位点，这些位点均位于基因附近，表明该基因在该品系群体中对SNB易感性的形成起着重要作用。此外，还在2AL和7AS染色体上鉴定出了两个数量性状位点（quantitative trait loci, QTL）。对于TS，显著标记主要位于7B染色体长臂的20 Mb区域内，其解释的表型变异范围为8.34%至12.31%。在3A、5A、7A和7D染色体上也鉴定出了效应较小的TS QTL。这些抗性品系以及SNB和TS抗性标记的鉴定，为通过育种程序提高小麦对这些疾病的抗性提供了潜在应用价值。