解码表面束缚异构体：一种结合串联质谱与激光光谱技术的QIT-ToF-SIMS平台

《Analytical Chemistry》：Decoding Surface-Bound Isomers: A QIT-ToF-SIMS Platform Integrating Tandem Mass Spectrometry and Laser Spectroscopy

开发了QIT-ToF-SIMS系统，结合激光光解吸光谱，通过离子阱分离同位素罗丹明分子，利用碰撞或光致解离分析结构诊断碎片离子，验证了表面分子分析的有效性，适用于复杂有机材料和界面。

　　

开发了一种四极杆离子阱-飞行时间二次离子质谱（QIT-ToF-SIMS）系统，该系统通过串联质谱与激光光解光谱相结合，实现了对分子表面的详细分析。在这种方法中，利用存储的波形逆傅里叶变换技术在离子阱中选择性地分离出二次分子离子，随后对其进行碰撞诱导解离或光诱导解离。以同分异构的罗丹明染料作为模型系统，观察到了具有结构诊断意义的碎片离子，从而即使在名义质量相同的情况下也能实现明确的分子识别。对分离出的离子进行激光光解光谱分析后，发现其碎片行为具有明显的波长依赖性，这与已知的气相吸收特性一致。由于该系统将串联质谱和激光光谱技术与飞行时间二次离子质谱相结合，因此QIT-ToF-SIMS成为一种有效的分子级表面表征工具，特别适用于研究日益复杂的有机材料和界面。