通过热退火实现聚(4-氯苯乙烯-b-甲基丙烯酸酯)嵌段共聚物的定向自组装,以制备尺寸小于10纳米的结构

《ACS Applied Nano Materials》:Directed Self-Assembly of Poly(4-chlorostyrene-b-methyl acrylate) Block Copolymers for Sub-10 nm Features via Thermal Annealing

【字体: 时间:2025年11月24日 来源:ACS Applied Nano Materials 5.5

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  定向自组装(DSA)技术中,合成高Flory–Huggins相互作用参数(χ)且表面能(γ)匹配的嵌段共聚物(BCPs)对实现14.1 nm最小周期和7.5 nm特征尺寸至关重要。该研究成功在193i光刻化学图案化硅片上完成7倍密度倍增的DSA,验证了P4ClS-b-PMA作为半导体制造候选材料的潜力。

  
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嵌段共聚物(BCPs)的定向自组装(DSA)在制造亚10纳米级的图案方面展现出巨大潜力,这对先进半导体技术的发展至关重要。需要开发具有较高Flory–Huggins相互作用参数(χ)以及组成块之间相似表面能(γ)的嵌段共聚物。本研究合成了能够形成层状结构的聚(4-氯苯乙烯-甲基丙烯酸酯)(P4ClS-b-PMA),并探讨了其DSA行为。P4ClS-b-PMA的Flory–Huggins相互作用参数(χ)高于聚(苯乙烯-甲基丙烯酸甲酯)(PS-b-PMMA)和聚(苯乙烯-甲基丙烯酸酯)(PS-b-PMA),因此其可实现的最小周期(L?)达到了14.1纳米。值得注意的是,P4ClS和PMA块之间的表面能(γ)相似,这使得在经过表面处理的硅片上进行热退火处理时,P4ClS-b-PMA薄膜能够形成垂直取向的结构。通过在193纳米浸没光刻(193i)工艺制备的化学图案上应用7倍密度增强的DSA技术,成功制备出了特征尺寸约为7.5纳米的P4ClS-b-PMA薄膜。这些研究结果表明,P4ClS-b-PMA可能成为DSA光刻技术的理想候选材料。

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