更正:“通过C2H2辅助的多循环处理结合空气暴露实现单壁碳纳米管的高效缺陷修复”
《ACS Applied Materials & Interfaces》:Correction to “Efficient Defect Healing of Single-Walled Carbon Nanotubes through C2H2-Assisted Multiple-Cycle Treatment with Air Exposure”
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时间:2025年11月24日
来源:ACS Applied Materials & Interfaces 8.2
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碳纳米管缺陷密度计算公式存在误差,现修正为L_D2(nm2)=(4.3±1.3)×103×(E_l4)/(I_G/I_D),并调整了主文本及补充材料中的数值,包括缺陷距离和缺陷密度等,但研究结论不受影响。
在原始论文中,计算单壁碳纳米管(SWCNTs)的缺陷密度时出现了一个错误。正确的缺陷距离关系为:
$L_D = 2 \times (4.3 \pm 1.3) \times 10^3 \times \frac{E}{I_D}$(单位:nm)
在本研究中,计算时使用了4.3(范围为4.3 ± 1.3)这个中心值。因此,正文中第20108页上给出的缺陷密度值$L_D$以及表S1中列出的$L_D$、$f_D$、$\lambda_D$和$f_D$的值都根据这个公式进行了修正。这些修正不会影响本研究的结论。
对第20108页正文的修正如下:
- $L_D$:3.3 × 10^2 nm,$f_D$:7.6 × 10^-8 缺陷/碳原子,修正为 $L_D$:50.3 nm,$f_D$:3.3 × 10^-6 缺陷/碳原子;
- $L_D$:4.4 × 10^2 nm,$f_D$:4.3 × 10^-8 缺陷/碳原子,修正为 $L_D$:58.1 nm,$f_D$:2.5 × 10^-6 缺陷/碳原子;
- $L_D$:5.9 × 10^2 nm,$f_D$:2.4 × 10^-8 缺陷/碳原子,修正为 $L_D$:67.4 nm,$f_D$:1.8 × 10^-6 缺陷/碳原子;
- $L_D$:6.7 × 10^2 nm,$f_D$:1.9 × 10^-8 缺陷/碳原子,修正为 $L_D$:71.6 nm,$f_D$:1.6 × 10^-6 缺陷/碳原子;
- $L_D$:6.6 × 10^2 nm,$f_D$:1.9 × 10^-8 缺陷/碳原子,修正为 $L_D$:71.4 nm,$f_D$:1.6 × 10^-6 缺陷/碳原子;
- $L_D$:6.3 × 10^2 nm,$f_D$:2.1 × 10^-8 缺陷/碳原子,修正为 $L_D$:69.5 nm,$f_D$:1.7 × 10^-6 缺陷/碳原子;
- $L_D$:5.8 × 10^2 nm,$f_D$:2.5 × 10^-8 缺陷/碳原子,修正为 $L_D$:66.8 nm,$f_D$:1.9 × 10^-6 缺陷/碳原子;
- 24.4% 修正为 48.5%;
- 75.6% 修正为 51.5%。
对“支持信息”(Supporting Information)的修正如下:
- $L_D$(单位:nm)的表达式由原来的 $\frac{560}{E \times l}$ 更正为 $L_D^2$(单位:nm^2),即 $L_D = \frac{4.3 \pm 1.3 \times 10^3 \times \frac{E}{I_D}{4 \times l}$;
- 表S1中的数值也进行了相应的修正。修订后的“支持信息”文件已附上。
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