工程化的银碲(Ag?Te)纳米颗粒具有出色的X波段电磁干扰(EMI)屏蔽效果

《Next Materials》:Excellent X-band EMI shielding efficiency from engineered silver telluride (Ag 2Te) nanoparticles

【字体: 时间:2025年11月28日 来源:Next Materials CS1.9

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  本文采用水热法一锅合成2-巯基乙醇 capped的银 telluride(Ag2Te)纳米颗粒,通过苯胺作为溶剂和还原剂,优化合成条件获得18–35 nm的粒径。通过XRD、FTIR、Raman等表征证实了Ag2Te的纯相和结构稳定性。将Ag2Te纳米颗粒与PVA制备成复合薄膜,添加Ag纳米颗粒显著提升电导率至887.4 S cm?1。X波段测试显示复合薄膜最大电磁屏蔽效能达-65.5 dB,有效吸收率100%,首次报道Ag2Te在EMI屏蔽中的应用。

  
本研究聚焦于通过一锅法合成银碲(Ag?Te)纳米颗粒及其复合薄膜的电磁屏蔽性能。研究团队采用苯胺和2-巯基乙醇作为反应介质和表面修饰剂,在溶剂热条件下成功制备了粒径分布在18–35纳米的Ag?Te纳米颗粒。通过X射线衍射(XRD)证实产物为单斜相Ag?Te,其晶格参数与文献报道一致,且未检测到Ag?Te与Ag?Te?的混合物。紫外-可见光谱显示纯Ag?Te纳米颗粒在近红外区域(NIR)具有宽吸收带,而未添加2-巯基乙醇时生成的纯银纳米颗粒(Ag NPs)在380纳米处呈现典型的表面等离子体共振(SPR)吸收峰。

材料表面特性通过傅里叶红外光谱(FTIR)和拉曼光谱(Raman)进一步分析。FTIR谱图中观察到特征峰:3311 cm?1(N-H/O-H伸缩振动)、1600 cm?1(芳香族C=C伸缩振动),以及2-巯基乙醇的典型吸收峰(2610 cm?1 S-H伸缩、1050 cm?1 C-O伸缩)。拉曼光谱显示118 cm?1和134 cm?1的特征峰,对应Te-O键振动,同时低频区存在氧化态 tellurium 的特征信号,表明表面可能发生氧化还原反应。

热分析表明,Ag?Te纳米颗粒在150–180℃出现显著质量损失(约5.0%),对应有机配体(2-巯基乙醇)的分解。差示扫描量热法(DSC)检测到单斜Ag?Te向立方相β-Ag?Te的相变过程,相变温度(147℃)与文献报道一致。电镜观察显示颗粒呈球形,平均尺寸25纳米,表面覆盖均匀的有机配体层,AFM分析进一步证实颗粒间的轻微团聚现象。

在电磁屏蔽应用方面,将Ag?Te纳米颗粒与聚乙烯醇(PVA)复合制备薄膜,通过添加纳米银(Ag NPs)调节复合材料的导电性。实验发现,当Ag?Te与Ag NPs的质量比达到1:1时(AT-4样品),薄膜在8.2–12.4 GHz X频段展现出卓越的屏蔽效能(-65.5 dB),有效吸收率(A_eff)达100%。这一性能的突破主要源于以下机制:1)Ag NPs的高导电性显著降低表面阻抗;2)Ag?Te纳米颗粒的等离子体共振效应在近红外区域产生反射损耗;3)复合结构中的界面散射增强电磁波吸收。

与现有研究对比,Ag?Te基复合材料在X频段的屏蔽效能(-65.5 dB)优于其他 tellurium-based复合材料(如Te/PANI薄膜的-10 dB)。此外,该材料在可见光区域(300–700 nm)对电磁波的吸收率高达98%,表现出宽频带屏蔽特性。电导率测试显示,Ag NPs的添加使薄膜电导率从0.65 S/cm提升至870 S/cm,证实导电网络的形成对屏蔽效能的贡献。

研究创新点体现在:1)开发低成本的一步合成法,无需高压反应器或强还原剂;2)首次系统研究Ag?Te纳米颗粒的电磁屏蔽机制,揭示其表面配体对屏蔽效能的影响规律;3)构建多尺度复合结构(Ag NPs/Ag?Te NPs/PVA),通过调控银含量实现屏蔽效能与机械柔性的平衡。该成果为柔性电子设备、5G通信器件及医疗设备提供了新型电磁屏蔽材料,同时为纳米复合材料的设计策略(如导电填料比例优化、表面功能化调控)提供了重要参考。
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