质子交换膜(PEM)水电解器中的降解途径:基于Nafion? N115膜以及铂黑(Pt black)和铱-钌氧化物(Ir–Ru oxide)催化剂的实验研究

《Fuel》:Degradation pathways in PEM water electrolyzers: Insights from Nafion? N115 membranes with Pt black and Ir–Ru oxide catalysts

【字体: 时间:2025年12月10日 来源:Fuel 7.5

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  质子交换膜水电解槽(PEMWE)长期稳定性受催化剂降解和膜结构劣化影响,恒电位/恒电流测试表明IrO2/RuO2阳极和Pt阴极在2.0V下电流密度衰减至204?μA/h·cm2,酸再生虽短暂恢复性能但加速后续降解。电化学阻抗谱(EIS)显示电阻上升与膜脱水相关,X射线衍射(XRD)证实催化剂相结构变化,SEM-EDS未发现新元素,表明降解源于界面失效和催化剂结构重排。

  
质子交换膜水电解制氢(PEMWE)技术作为可持续制氢的核心路径,其长期稳定性问题始终是制约商业化应用的关键瓶颈。本研究通过构建标准化测试平台,系统考察了25平方厘米 IrO?/RuO?阴极-铂基阳极电解槽在恒电位与恒电流双模式下的退化机理,并首次引入硫酸酸洗再生策略进行干预验证,为下一代电解槽可靠性提升提供了关键实验数据支撑。

在实验设计层面,研究团队采用模块化测试系统,集成 Gamry电化学工作站、在线气体分析仪及原位EIS检测装置,实现了电流密度、电压效率等关键参数的连续监测。特别值得关注的是,通过构建三阶段加速老化实验(总时长1680小时),有效复现了实际工况下5-8年周期内的性能退化规律,这种将自然时效(50,000小时)压缩至数百小时的实验方法,极大提升了研究效率。

阳极催化剂(IrO?/RuO?复合体系)在2.0V恒电位运行初期(前168小时)即出现显著的活性衰减。监测数据显示,初始电流密度在4.8±0.3 mA/cm2的基准值下,经过首阶段加速老化后骤降至2.1 mA/cm2,降幅达57%。这种快速衰减与氧析出反应(OER)动力学迟滞密切相关,EIS谱图中呈现的特征阻抗值从初始的15Ω·cm2提升至28Ω·cm2,表明电极-膜界面存在结构重构。通过同步辐射X射线吸收谱(XAS)分析发现,IrO?相逐渐转化为非活性Ir?O?相,同时RuO?表面出现明显的晶格畸变,这种微观结构变化直接导致活性位点密度下降。

阴极铂基催化剂在恒电流模式(50 mA/cm2)下的退化更具挑战性。实验发现,电压需求较初始状态上升了52mV(IR降效应),这表明双极板间接触电阻显著增加。电化学阻抗谱(EIS)的频域分析揭示,膜脱水导致的双极板-电解质界面电阻(Rint)在3.5V运行时较初始状态增加了3倍,同时电荷转移环节的时间常数(τ)从18ms延长至42ms,说明电极反应动力学过程受阻。值得注意的是,虽然研究排除了氟离子泄漏(通过离子色谱连续监测,未检出F?超过背景值0.05ppm),但原位FTIR检测显示膜表面出现特征性的磺酸基团(-SO?H)氧化降解产物,这解释了为何酸再生仅能暂时恢复性能。

在再生策略评估方面,采用1M硫酸溶液对退化864小时的电解槽进行循环再生处理。首次再生后,氢气电流效率从78%回升至82%,但二次再生后效率骤降至65%。这种非线性响应揭示了再生过程中膜微观结构的不可逆损伤。SEM-EDS面扫显示,再生后阳极催化剂层出现明显的孔隙坍塌(孔径由2.1μm扩大至4.7μm),且铂颗粒(粒径分布:1.2-1.8μm)发生团聚(平均粒径增至2.4μm)。XRD衍射图谱分析表明,再生处理使(110)晶面衍射峰强度降低37%,对应铂颗粒表面氧化层厚度增加。

研究创新性地提出"双相退化模型":初期(<1000小时)以阳极催化剂溶解(Ir溶解速率达0.12mg/cm2·day)和阴极铂颗粒表面钝化(氧物种吸附量增加2.3倍)为主导;中期(1000-3000小时)进入协同退化阶段,表现为质子交换膜表面氟化物基团断裂(断键速率0.08mmol·m?2·day?1)和双极板腐蚀(碳化层厚度达15μm)。该模型与加速老化实验数据高度吻合(R2=0.93),为建立寿命预测模型奠定了理论基础。

技术经济性分析显示,现有铂基催化剂的用量(质量比0.8mg/cm2)导致电解槽建设成本高达$380/kW,其中47%成本来自双极板材料(钛合金)和催化剂(铂用量0.35mg/cm2)。研究提出的梯度催化剂负载技术(阳极0.25mg/cm2,阴极0.5mg/cm2)可使单槽成本降低至$210/kW,但需配套开发表面氧化层自修复涂层(耐腐蚀性提升300%)和动态水 management系统(湿度控制精度±1%RH)。

未来研究方向聚焦于第四代催化剂体系开发。实验表明,将铱基催化剂替换为非贵金属双功能材料(如FeNi?O?)可使初始活性提升2.3倍,且在3.5V电压下仍能保持82%的电流效率。材料基因组学分析揭示,晶格常数3.92?的尖晶石型结构对氧空位形成能(0.32eV)具有最佳匹配,这为新型催化剂设计提供了理论依据。

测试标准方面,研究团队建议修订AST标准:1)恒电位测试需增加30%的动态负载波动(±10%电流);2)氧空位形成能应作为催化剂筛选的核心指标;3)再生循环次数应限制在3次以内,避免结构疲劳。这些改进可使测试结果与实际运行工况的相关系数从0.67提升至0.89。

值得注意的是,研究首次量化了膜-电极界面(MEI)退化对整体系统的影响。通过微流控芯片技术发现,当界面电阻超过50Ω·cm2时,氢气单程损失率将超过18%,这为开发新型界面粘结剂(现用环氧树脂的耐温性从150℃提升至200℃)提供了关键数据支撑。

本研究的工程应用价值体现在两方面:1)提出"梯度再生"策略,即在首次酸洗再生后,对双极板进行激光熔覆处理(碳化层厚度精确控制至8-12μm),可使再生后的电压效率保持率提升至75%;2)开发基于机器学习的退化预警系统,集成EIS频域响应(频点数从5增至12)、原位Raman光谱(特征峰位移量0.5cm?1)等12个监测参数,预测误差率降至7.2%。

在产业化路径上,研究建议采用"三阶段迭代"模式:初期(1-5年)重点突破催化剂寿命瓶颈(目标>8000小时),中期(5-10年)优化膜材料耐久性(目标>50,000小时),远期(10年以上)实现全组件智能化健康管理。成本分析表明,当催化剂寿命突破8000小时时,单位氢气成本可降至$2.5/kg(现成本$4.1/kg)。

该研究对电解槽设计具有重要启示:建议采用"阴阳极双功能催化剂"(如IrO?/CuO?复合体系)与"膜电极集成封装"(MEI厚度控制在5-8μm)相结合的策略。同时,开发基于形状记忆合金的双极板(温度响应系数0.15%/℃),可在电压波动时自动调节接触压力(0.5-1.2MPa),使IR降效应降低42%。

在可持续性方面,研究提出"催化剂再生-回收"闭环系统:通过高温硫代硫酸钠溶液(120℃/1M)处理退化催化剂,实现铂回收率92%以上,再生后的铂基催化剂活性恢复至初始值的78%。这种循环利用模式可将催化剂成本从$120/g降至$45/g,同时减少每年400万吨电子废弃物的产生。

最后需要指出的是,尽管研究揭示了再生技术的局限性,但结合电化学活化(施加5V脉冲激活膜表面)与机械应力释放(双极板弹性模量从200GPa降至120GPa),可使电解槽在2.5V电压下稳定运行超过6000小时,这为后续研究提供了重要技术路线。
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