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为评估 CBCT 预测复杂下颌第三磨牙（M3M）拔除时下牙槽神经（IAN）暴露的准确性，研究发现其可通过皮质缺损长度预测，且非水平阻生风险更高。
在口腔颌面外科领域，下颌第三磨牙（M3M）拔除是极为常见的手术。然而，手术过程中存在下牙槽神经（IAN）暴露的风险，这可导致神经感觉功能障碍，影响患者术后生活质量。比如，患者可能会出现下唇和下巴的麻木感，给日常饮食、说话等活动带来诸多不便。尽管锥形束计算机断层扫描（CBCT）在术前评估中被广泛应用，但它在预测 IAN 暴露方面的准确性却一直存在争议。此前的研究由于缺乏术中直接测量和记录的方法，难以确切判断 CBCT 预测的可靠性。而且，CBCT 图像显示的牙根进入下颌管的大小、皮质缺损大小与实际 IAN 暴露大小之间的关系也尚不明确。因此，开展一项研究来明确这些问题就显得尤为重要。
北京大学口腔医学院的研究人员针对这一现状，开展了相关研究，旨在评估 CBCT 在预测复杂 M3M 拔除时 IAN 暴露的准确性。该研究成果发表在《BMC Oral Health》杂志上。
研究人员采用了回顾性研究的方法。首先确定了研究对象，选取 2020 年 11 月至 2022 年 1 月在北京大学口腔医学院口腔颌面外科接受 M3M 拔除的患者。纳入标准包括年龄超过 18 岁、M3M 完全或部分阻生、术前全景或口腔内影像学显示 IANI（下牙槽神经损伤）“高风险” 且外科医生认为 CBCT 对拔牙有帮助和必要、CBCT 显示下颌管骨质不连续或 M3M 牙根压迫或环绕下颌管 。排除了有手术禁忌证的患者，如孕妇、M3M 伴有急性炎症或牙髓、牙周及根尖周疾病的患者。
手术均由一名资深外科医生在局部麻醉下进行。手术过程中，在特定位置切开，掀起黏骨膜瓣，使用高速涡轮手机分割 M3M 牙冠，同时利用带有不同视角的内窥镜检查牙冠内侧和第二磨牙远中根面。在内窥镜辅助下，使用超声骨刀分割牙根并去除部分相邻骨质，最后用微创牙挺拔除牙根。术后对拔牙窝进行内镜检查，记录 IAN 暴露情况并测量暴露 IAN 的大小。
研究中涉及的变量包括患者的性别、年龄、CBCT 机器的制造商及扫描参数、M3M 的 Winter 分类、CBCT 上显示的牙根进入下颌管的大小以及皮质缺损的大小等。其中，Winter 分类依据阻生 M3M 与第二磨牙长轴的位置关系进行划分。
统计分析使用 Stata 15.0 软件，通过独立样本 t 检验、Bland - Altman 分析评估 CBCT 与内镜测量结果的一致性；进行回归分析确定 CBCT 与内镜测量值之间是否存在相关性；运用卡方检验评估不同 Winter 分类中 IAN 暴露比例是否一致；采用方差分析（ANOVA）检验暴露 IAN 的实际大小与 Winter 分类类型、CBCT 机器类型之间的相关性。
研究结果如下：
- 描述性统计及暴露与未暴露组的比较：研究共纳入 105 例患者（40 名男性和 65 名女性），平均年龄 29 岁，涉及 115 颗 M3M。其中，85 颗（73.9%）M3M 在术中经内镜观察到 IAN 暴露。术前 CBCT 显示的牙根进入下颌管的大小在 IAN 暴露组和未暴露组之间无显著差异，但暴露 IAN 的长度和宽度明显小于 CBCT 上牙根进入下颌管的测量值。同时，IAN 暴露组和未暴露组在术前 CBCT 上的皮质缺损大小存在显著差异。进一步分析发现，IAN 暴露与 CBCT 上皮质缺损长度显著相关，暴露 IAN 的长度和宽度也与皮质缺损的长度和宽度显著相关。
- 不同 Winter 分类中 IAN 暴露比例及与暴露 IAN 大小的关系：卡方检验结果表明，不同 Winter 分类的 M3M 中 IAN 暴露的比例存在显著差异，水平阻生和近中阻生类型之间差异明显。方差分析显示，暴露 IAN 的长度与 Winter 分类类型存在统计学差异，但宽度无差异。
研究结论和讨论部分指出，并非所有术前 CBCT 显示牙根与 IAN 接触迹象的 M3M 在术中都会出现 IAN 暴露。CBCT 上显示的与牙根接触的 IAN 大小通常大于术中内镜直接测量的暴露 IAN 的实际大小。牙根拔除后，在有 IAN 暴露的病例中，内镜下可见 IAN 变直。CBCT 上皮质缺损的长度可准确预测 IAN 暴露，而且非水平阻生类型的 M3M 在术中出现 IAN 暴露的概率更高。这一研究结果对于口腔颌面外科医生在术前评估 M3M 拔除风险、制定手术方案具有重要的指导意义，有助于医生更加准确地判断手术风险，采取相应的预防措施，减少 IAN 损伤的发生。
综上所述，该研究通过对 CBCT 在预测 M3M 拔除时 IAN 暴露准确性的深入探究，为临床实践提供了有价值的参考依据，有望推动口腔颌面外科手术的安全性和精准性的进一步提升。
