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为解决上颌囊肿术后眶下神经（ION）损伤风险评估不明确的问题，研究人员开展了关于 ION 解剖变异与囊肿开口部位关系及损伤风险的研究。结果发现 ION 损伤总体风险不高，但仍有发生可能。该研究对术前评估意义重大。
上颌囊肿术后（POMC）是上颌窦根治术后出现的一种延迟性并发症，尤其在 Caldwell-Luc（C-L）手术后更为常见，通常在术后 10 至 30 多年才会显现出来。它就像一颗隐藏在身体里的 “定时炸弹”，悄无声息地潜伏着，一旦发作，会给患者带来诸多困扰。POMC 的症状多种多样，有的患者会感到脸颊疼痛、不适或者肿胀，就像脸颊里藏了个小恶魔，时不时地捣乱；随着病情发展，更严重的还会出现眼眶相关症状，比如看东西重影（复视）、眼球突出、流泪异常等，严重影响患者的生活质量。
目前，内镜下经鼻造袋术已成为治疗 POMC 的标准方法，相比传统手术，它更安全、创伤更小。然而，眶下神经（ION）这个来自三叉神经上颌支的终端分支，在手术过程中却存在损伤风险。虽然在常规内镜下上颌窦手术中，ION 损伤风险较低，但 POMC 可能会因为囊肿扩张或先前的根治手术导致 ION 移位，从而增加手术时 ION 受损的可能性。之前就有研究表明，约四分之一的患者在进行内镜手术时存在 ION 损伤风险，可实际上 ION 损伤的发生率并没有那么高，而且在临床实践中，ION 的解剖变异很容易被忽视，这就像在手术的 “战场” 上埋下了一颗颗 “暗雷”，随时可能引发问题。所以，为了更清楚地了解 ION 损伤风险，开展这项研究就显得尤为重要。
日本香川医科大学和日本红十字会旭川医院的研究人员进行了一项多机构回顾性研究，时间跨度从 2014 年 5 月到 2023 年 12 月。他们对在这两所医院接受 POMC 手术的患者进行了研究，通过分析术前冠状位 CT 影像，从 ION 的解剖变异和神经损伤风险的角度展开深入探索。最终研究得出结论：虽然 ION 损伤的总体风险并不是很高，但如果不加以注意，在某些情况下仍可能发生。通过对影像评估结果进行分类，发现无风险的有 69 例（72.6%），低风险 16 例（16.8%），中风险 6 例（6.3%），高风险 4 例（4.2%），且回顾性分析显示，只有 1 例（1.4%）被归为高风险的患者出现了 ION 损伤。这一研究成果发表在《Auris Nasus Larynx》上，对于临床手术中预防 ION 损伤具有重要的指导意义。
研究人员采用的主要关键技术方法为回顾性研究和术前冠状位 CT 影像分析。回顾性研究选取了在香川医科大学或日本红十字会旭川医院被诊断为 POMC 并接受手术的患者；通过对这些患者术前冠状位 CT 影像进行分析，从 ION 解剖变异和神经损伤风险的角度进行评估 。
研究结果
- 研究对象基本情况：研究期间，共有 84 名患者（95 侧，其中 11 例为双侧病例）符合研究标准。大部分患者在患病侧出现脸颊症状，像疼痛（占比 52.6%）、不适（29.4%）、肿胀（29.4%）和 / 或感觉异常（17.9%），仅有少数患者出现眼眶症状，还有 15 个囊肿（15.8%）没有任何症状。
- 神经损伤风险因素评估：研究人员评估了多个可能导致神经损伤的风险因素，发现囊肿开口部位与 ION 接触的情况占 27.4%，眶下管骨质侵蚀的占 35.8%，ION 从眶底下降的占 16.8%，神经走行模糊的占 17.9% 。
- 损伤风险分类及实际损伤情况：依据影像评估结果，对 ION 损伤风险进行分类。无风险的有 69 例（72.6%），低风险 16 例（16.8%），中风险 6 例（6.3%），高风险 4 例（4.2%）。在实际情况中，回顾性分析发现只有 1 例（1.4%）被归为高风险的患者出现了 ION 损伤。
研究结论与讨论
这项研究详细评估了 POMC 病例中 ION 的解剖变异，明确了其与囊肿开口部位的关系以及 ION 损伤的风险。研究表明，虽然 ION 损伤的潜在风险率估计为 27.4%，但实际风险率在高风险病例中为 4.2% 。这提示临床医生，尽管 ION 损伤的总体风险不高，但绝不能掉以轻心，术前详细的 CT 检查，重点关注 ION 的解剖情况，对于评估神经损伤风险至关重要。它就像手术前的 “侦察兵”，能帮助医生提前了解 “敌情”，避开 ION 损伤的风险，为患者的手术安全保驾护航。同时，这也为后续相关研究提供了重要参考，有助于进一步完善对上颌囊肿手术并发症的认识和预防措施。
