流化床高空速甲烷干重整负载型 Ni 催化剂失活路径研究

【字体: 时间:2025年05月20日 来源:Carbon Resources Conversion 6.4

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  为解决 Ni 基催化剂在甲烷干重整(DRM)中活性稳定性不足的问题,研究人员对 10% Ni/γ-Al?O?催化剂在流化床高空速条件下的失活机制展开研究。发现 750℃时活性随空速增加加速下降,排除积碳因素,证实活性 Ni 位点氧化为 Ni?O(x≤1)是主因,为催化剂优化提供新方向。

  
甲烷,这种看似普通的气体,却是全球能源舞台上的重要角色。甲烷干重整(DRM)能将甲烷与二氧化碳(CO?)转化为合成气(CO 和 H?),既缓解温室效应又创造工业原料,被视为实现碳循环利用的关键技术之一。然而,这一过程的核心 ——Ni 基催化剂,却面临着 “寿命短” 的难题:在实际反应中,其活性往往难以长期稳定,尤其是在高温、高空速等严苛条件下,催化剂快速失活成为制约工业化应用的瓶颈。究竟是什么导致了 Ni 基催化剂的 “英年早逝”?传统观点认为,积碳是主要元凶,但越来越多的迹象表明,可能还有其他 “隐藏杀手” 在作祟。

为了揭开这一谜团,国内研究团队针对 10% Ni/γ-Al?O?催化剂展开深入研究,相关成果发表在《Carbon Resources Conversion》。该研究旨在明确流化床反应器中高空间速度下,Ni 基催化剂活性衰减的真实机制,为开发长寿命催化剂提供理论支撑。

研究人员采用等体积浸渍法制备了 10% Ni/γ-Al?O?催化剂,以平均粒径 60μm 的球形 γ-Al?O?为载体。通过流化床石英反应器,在 0.1MPa 下进行了不同温度(750-850℃)和空速(300-860 L/(g?h))的活性评价测试,时长长达 600 分钟。结合热重分析(TG)、X 射线衍射(XRD)、X 射线光电子能谱(XPS)、氢气程序升温还原(H?-TPR)和脱附(H?-TPD)等表征手段,系统分析了催化剂的失活路径。

3.1 新鲜催化剂表征


ICP 分析显示,新鲜催化剂中 Ni 含量为 10.3%。N?吸附 - 脱附等温线表明,γ-Al?O?载体和新鲜催化剂的比表面积分别为 162 和 119 m2/g,平均孔径 6.4nm,呈介孔结构。XRD 结果显示,新鲜催化剂中 Ni 以 NiO 形式存在,经 850℃还原后转变为金属 Ni,晶粒尺寸从 13nm 降至 9.2nm,且未检测到 NiAl?O?,表明低温焙烧避免了难还原相的形成。H?-TPR 谱图显示两个还原峰,分别对应体相和分散相 NiO 的还原,证实原位还原条件可使 NiO 完全转化为活性金属 Ni。

3.2 催化性能


不同温度下的活性测试表明,750℃时 CH?和 CO?转化率随时间持续下降,而 820℃和 850℃下转化率在稳定后保持不变,显示低温下催化剂稳定性更差。空速影响实验发现,750℃时空速越高,活性下降越快:空速 300 L/(g?h) 时转化率稳定,而 860 L/(g?h) 时急剧下降,表明高空速加速失活。

3.3 失活路径


热重分析显示,750℃高空速条件下的失活催化剂几乎无积碳,而低失活速率的样品反而检测到少量积碳,排除了积碳是主因。提高 CO?/CH?比例(1.2 和 1.5)进一步加速活性下降,且 TG 未检测到积碳,但 XRD 和 XPS 显示失活催化剂中存在 NiO 和 Ni?O(x≤1)物种,Ni 的结合能升高,证实活性金属 Ni 被氧化为非活性氧化物。高温(820℃以上)下,氧化态 Ni 可被还原,使催化剂活性稳定,揭示了温度对氧化 - 还原平衡的关键作用。

结论与讨论


本研究首次明确了在 750℃和高空间速度条件下,10% Ni/γ-Al?O?催化剂失活的主要机制是活性 Ni 位点逐步氧化为 Ni?O(x≤1),而非传统认为的积碳。CO?不仅是反应物,也是潜在的氧化剂,其浓度升高会加剧 Ni 的氧化。这一发现颠覆了对 Ni 基催化剂失活机制的传统认知,为设计抗氧化的新型催化剂提供了新思路:通过调控载体相互作用、添加还原性组分或优化反应条件(如温度、CO?/CH?比),抑制 Ni 的氧化失活,有望提升催化剂的工业应用价值。此外,研究还揭示了流化床反应器在抑制积碳方面的优势,为反应器设计和工艺优化提供了参考。

该研究不仅深化了对 Ni 基催化剂在 DRM 反应中行为的理解,也为解决其他氧化还原敏感型催化体系的稳定性问题提供了借鉴,推动了碳资源高效转化领域的技术进步。

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