心脏植入电子装置(CIED)废弃导线的经静脉拔除术：安全性与有效性的多中心队列研究

为解决CIED废弃导线管理难题，研究人员开展了一项大规模回顾性研究。通过对1109例患者（293例含废弃导线）的对比分析，证实经静脉导线拔除(TLE)在废弃导线患者中具有临床可行性（成功率96.2%），但需更多使用高级工具（8.5% vs 3.2%）。研究首次明确导线留置时间（OR 1.15）和拔除数量（OR 2.04）是独立风险因素，为预防性拔除非功能导线提供了循证依据。

　　

这项多中心研究揭示了心脏植入电子装置(CIED)废弃导线管理的临床困境。研究团队对2013-2021年间1109例接受经静脉导线拔除(TLE)的患者进行分层分析，发现携带废弃导线的患者组呈现显著特征：每患者平均导线数达2.0-3.0根，最旧导线留置时间长达120个月，CIED感染率高达94.9%，且MB评分≥5的复杂病例占比45.1%。尽管两组最终临床成功率相当（96.2% vs 97.8%），但废弃导线组需要更多高级工具（8.5% vs 3.2%）和急诊开胸（1.4% vs 0.1%）。通过多变量分析，最旧导线留置时间每增加1个月，失败风险上升15%（OR 1.15），而每多拔除1根导线，并发症风险增加54%（OR 1.54）。这些发现如同"导线老化计时器"，量化了延迟处理的风险，为临床决策提供了精准导航。研究最终建议：当导线完成使命后，及时退役或是更安全的选择。