石蜡切片研究新突破：NanoSuit-CLEM技术实现非破坏性超微结构可视化

为解决传统电子显微镜在FFPE组织切片研究中面临的样本破坏、处理复杂及光镜-电镜图像关联困难等问题，研究人员创新性应用NanoSuit-CLEM技术，通过超薄保护膜实现非破坏性高分辨率成像，成功观察到内皮结构、淀粉样沉积、细菌病毒等超微细节，为病理诊断和多模态组织分析开辟新途径。

　　

光学显微镜下的石蜡切片(FFPE)组织学检查是生命科学和诊断医学的基石，但传统电子显微镜存在样本破坏、流程繁琐等瓶颈。NanoSuit方法通过构建纳米级保护膜，既增强导电性又保持组织水合结构，使扫描电镜(SEM)成像分辨率突破极限。这项研究将NanoSuit-关联光镜电镜技术(CLEM)应用于FFPE切片，首次实现可逆性电子显微镜表征：清晰捕捉到内皮细胞三维网络、心肌肌节(sarcomere)的带状结构、线粒体嵴的纳米级褶皱，甚至外来体沉积物的元素组成也能通过能谱分析(EDS)解析。该技术无需新增设备即可完成从宏观到纳米的跨尺度观察，为淀粉样变诊断、病原体检测等病理研究提供革命性工具。