短程有序调控富铝 AlGaN 中 Si 掺杂剂两性行为的研究:突破深紫外光源高效掺杂瓶颈

【字体: 时间:2025年05月31日 来源:Nature Communications 14.7

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  为解决高 Al 含量 AlGaN 合金因 Si DX 中心形成导致的 n 型掺杂难题,研究人员开展 Si 掺杂剂两性行为与局域环境关系研究。发现其行为由 Ga/Al 原子短程有序控制,为实现更高 Al 含量甚至 AlN 的高效 n 型掺杂提供新路径。

  深紫外(UV)光源在杀菌消毒、水质净化等领域具有重要应用价值,尤其是波长≤240 nm 的深紫外光发射器件,可有效抑制传染病并保障饮用水安全。富铝 AlGaN 合金因具有宽禁带特性,成为制备此类光源的理想材料,但其铝含量超过~80% 时,传统 Si 施主掺杂会形成负性 Si DX 中心,导致 n 型掺杂效率大幅下降,甚至出现补偿效应,这严重制约了高功率、高效率深紫外器件的发展。因此,揭示 Si 掺杂剂在富铝 AlGaN 中的行为机制,突破高效掺杂瓶颈,成为该领域亟待解决的关键科学问题。
来自芬兰赫尔辛基大学、德国柏林工业大学等机构的研究人员,针对富铝 AlGaN 中 Si 掺杂的复杂性,开展了深入的实验与理论研究。他们通过金属有机气相外延(MOVPE)技术生长了一系列 Al0.90Ga0.10N 外延薄膜,系统调控 Si 掺杂浓度(1×1018 cm-3至 2×1019 cm-3),结合正电子湮没谱(PAS)、X 射线吸收近边结构谱(XANES)等先进表征手段,以及电子结构计算,阐明了 Si 掺杂剂两性行为的微观机制。该研究成果发表在《Nature Communications》上,为富铝氮化物半导体的掺杂调控提供了新的理论依据和技术路径。

研究人员主要采用了以下关键技术方法:首先,通过 MOVPE 在蓝宝石衬底上外延生长 AlGaN 薄膜,利用外延横向过生长(ELO)技术制备高质量 AlN 缓冲层,确保样品的晶体质量;其次,运用正电子湮没谱分析缺陷浓度及类型,通过 S 和 W 参数的变化追踪阳离子空位(VII)和负电荷缺陷的演化;再者,利用 XANES 技术研究 Si 原子的局域环境变化,通过特征谱峰的位置和强度差异,判别 Si 周围是 GaN 型还是 AlN 型环境;最后,结合密度泛函理论(DFT)计算,构建不同 Ga 原子分布的超胞模型,分析 Si 的形成能及电子结构,揭示局域有序对其电荷状态的影响。

高 Al 含量 AlGaN 的 Si 掺杂特性


研究发现,随着 Si 浓度增加,样品电阻率先降低后升高,呈现明显的阈值行为。当 Si 浓度低于阈值时,其作为施主有效提升载流子浓度,电阻率下降;超过阈值后,补偿效应增强,电阻率上升。这与传统 III-V 半导体中 DX 中心形成的阈值行为类似,但在富铝 AlGaN 中,该阈值与 Si 周围的 Ga 原子局域有序密切相关。

正电子湮没谱分析缺陷演化


正电子湮没谱显示,低 Si 浓度时,阳离子空位(VII)浓度随 Si 增加而升高,但其浓度比 Si 低一个数量级,不足以解释电补偿。高 Si 浓度时,负电荷型缺陷(非开放体积缺陷)浓度与 Si 相当,且其局域环境呈现 AlN 型特征,表明 Si 在此环境下发生施主 - 受主转变,形成负电中心。

XANES 揭示 Si 局域环境变化


XANES 谱图显示,低 Si 浓度时,Si 周围呈现 GaN 型环境(特征峰与 GaN 中 Si 类似),高 Si 浓度时则转变为 AlN 型环境(特征峰与 AlN 中 Si 一致)。通过与模拟谱图对比,确认了 Si 从 Ga 富集区向 Al 富集区的迁移,其局域环境的转变直接决定了电荷状态。

电子结构计算阐明有序驱动机制


理论计算表明,Si 在 Ga 富集区的形成能更低,倾向于占据 Ga 原子作为次近邻(SNN)的位点,此时其施主能级靠近导带底,保持施主特性;当 Ga 富集位点饱和后,Si 被迫进入 Al 富集区,形成能升高,施主 - 受主转变能级靠近价带,导致负电中心形成。计算还发现,Ga 原子的短程有序(如簇状分布)可显著降低 Si 的形成能,增强其施主稳定性。

研究结论表明,Si 在富铝 AlGaN 中的两性行为本质上由局域 Ga/Al 原子的短程有序控制,而非传统认为的平均成分阈值。当 Si 周围存在足够 Ga 原子时,其保持施主特性;高 Si 浓度下,局域 Al 富集环境导致 Si 转变为受主,引发补偿效应。这一发现打破了传统对 DX 中心形成机制的认知,揭示了短程有序在掺杂调控中的关键作用。

讨论部分指出,通过调控 Ga 原子的空间有序(如引入 Ga 簇或超晶格结构),可增加 Si 在 Ga 富集区的占据概率,即使在高 Al 含量(包括 AlN)中也能实现高效 n 型掺杂。这为设计新型掺杂策略提供了方向,例如通过共掺杂促进 Ga 原子 clustering,或利用数字超晶格结构将 Si 引入 Ga 富集层。此外,该研究还为理解其他 III 族氮化物(如 β-(Al,Ga)?O?)中的掺杂行为提供了参考,拓展了短程有序在宽禁带半导体中的应用前景。

该研究不仅深化了对富铝氮化物中杂质行为的微观理解,更提供了突破掺杂瓶颈的切实路径,有望推动深紫外光源、高功率电子器件等领域的技术革新,为解决全球公共卫生(如病毒消杀)和能源效率问题提供关键技术支撑。

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