GeO/SnO/PbO二元氧化物的第一性原理研究:结构力学与热电性能的突破性发现

【字体: 时间:2025年06月04日 来源:Computational and Theoretical Chemistry 3.0

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  本研究通过第一性原理计算系统揭示了GeO、SnO和PbO二元氧化物的结构稳定性(正交晶系)、力学性能(GeO体模量最高/PbO杨氏模量最优)及半导体特性(直接带隙1.625-1.677 eV),填补了热电材料领域理论空白,为新型光电器件开发提供关键数据支撑。

  

在半导体材料研发领域,二元氧化物因其独特的电子结构和可调控性能备受关注。然而,GeO、SnO和PbO等关键材料的基础物性数据长期匮乏,特别是温度/压力依赖的热电性能机制不明,严重制约了其在光伏器件、传感器等领域的应用。针对这一瓶颈,研究人员采用第一性原理计算方法,首次系统揭示了这些材料的本征特性。

研究团队运用WIEN2k软件包中的全势线性缀加平面波法(FP-LAPW),基于广义梯度近似(GGA)框架,对比分析了四种晶体结构(立方Fmˉ3m、六方P63mc、正交Pnma、三方R3m)的稳定性。通过计算形成能确认正交相为最稳定结构,进而系统研究了其力学、热电及电子性能。

【结构性质】
正交晶系的GeO/SnO/PbO展现出独特力学响应:GeO具有最高体模量(标志抗压缩能力),PbO则显示最大杨氏模量(反映刚性特征)。泊松比分析揭示GeO呈现金属键合特性,PbO表现负泊松比效应(拉胀材料特性)。

【热电性能】
在0-1000K温度范围和0-60GPa压力条件下,三种材料的热膨胀系数和热导率呈现显著差异。GeO的pugh比值表明其延展性,而SnO/PbO则表现为脆性材料,这对器件加工工艺具有指导意义。

【电子结构】
能带计算证实三者均为直接带隙半导体:GeO(1.625eV)、SnO(0.543eV)、PbO(1.677eV),这种特殊的带隙分布使其适用于不同波段的的光电转换器件。电荷密度分布进一步解释了PbO的强极化响应特性。

该研究首次建立了二元氧化物的"结构-性能"关系图谱,不仅解决了基础物性数据缺失的问题,更通过理论预测指出:正交相PbO的负泊松比特性和高热稳定性,使其在柔性电子器件领域具有特殊应用潜力;而GeO的宽直接带隙特性则为紫外光电器件设计提供了新选择。这些发现为下一代功能材料的理性设计提供了重要理论依据,相关成果发表在《Computational and Theoretical Chemistry》期刊。

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