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NCA/Gr-SiOx锂离子电池阻抗加速老化建模及测试周期缩短的影响研究
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年06月13日 来源:Cell Reports Physical Science 7.9
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这篇研究通过开发开源阻抗老化模型(NCA/Gr-SiOx电池),实现了<1%的实测偏差,并采用敏感性分析优化测试策略。研究表明仅需90天数据即可获得可靠结果,为锂离子电池(LIB)老化评估提供了高效解决方案,显著降低新电池设计的测试成本和时间。
研究通过电化学阻抗谱(EIS)在5°C至45°C温度范围内测量镍钴铝(NCA)/硅氧化石墨(Gr-SiOx)电池的阻抗特性。Nyquist图显示高频区(6-1 kHz)存在电感效应,中频区(1 kHz-0.1 Hz)反映电极界面电荷转移过程,低频区(0.1-0.01 Hz)则与固相扩散相关。温度降低时,中频区半圆弧宽度显著增加,表明电荷转移阻抗增大。
通过弛豫时间分布(DRT)分析,识别出五个极化峰(P1
-P5
)。P1
(104
-103
Hz)归因于颗粒接触电阻;P2
(103
-102
Hz)与固体电解质界面(SEI)锂传输相关,在低SOC和低温下贡献显著;P3
(10-1 Hz)反映阳极电荷转移;P4
(1-0.1 Hz)对应阴极电荷转移;P5
(<0.1 Hz)为扩散过程。
基于DRT结果构建等效电路模型(ECM),包含电感、欧姆电阻、三个ZARC元件(模拟接触/SEI/电荷转移阻抗)及有限长度Warburg(FLW)扩散元件。模型通过EIS和脉冲测量联合参数化,高频(>1 Hz)参数由EIS拟合,低频参数由时域数据优化。结果显示SEI阻抗(R2
)对温度最敏感,变化跨越两个数量级。
Gr-SiOx负极在0%-20% SOC区间表现出273 mV的最大滞后电压,源于硅颗粒优先嵌锂。采用单态滞后模型(OSH)描述充放电分支的电压差异,通过一阶反转(FOR)曲线拟合衰减率γ(x)。模型将平均电压误差从97.1 mV降至9.4 mV,显著提升低SOC区模拟精度。
半经验老化模型分离日历老化(温度/SOC依赖)和循环老化(DOD/SOC依赖)。日历老化遵循Arrhenius关系(EA
=29.21 kJ/mol),循环老化中DOD影响占主导。验证显示,模型在三种真实驾驶场景下预测误差<1%,其中深循环(DOD=80%)老化速率是浅循环(DOD=30%)的2倍。
敏感性分析表明温度对日历老化模型输出的影响是SOC的3倍,而循环老化中DOD参数b6
相关性最强。通过子集拟合发现:90天数据可满足低温快充场景(RMSE=0.8%),但需200天数据才能准确预测日历老化主导的场景。该研究为硅基电池老化评估提供了开源工具链和测试优化框架。
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