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绝缘薄膜溅射沉积过程中阴极电弧的增强控制技术研究
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年06月19日 来源:Surface and Coatings Technology 5.4
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本研究针对溅射沉积绝缘薄膜(如Al2 O3 )时阴极电弧引发的工艺不稳定、靶材损伤及涂层缺陷等问题,系统对比了双极脉冲(BP)与动态反向脉冲(DRP?)两种电源配置的抑弧效果,结合电弧检测阈值(Varc threshold )和持续燃烧时间(tpersistence )参数优化,显著降低了电弧能量。结果表明,DRP模式在70%高占空比下协同快速电弧处理可实现更稳定的沉积过程,为高性能绝缘薄膜的大规模制备提供了关键技术支撑。
在工业级溅射沉积系统中,阴极电弧如同不速之客,频繁打断绝缘薄膜的制备进程。当Al2
O3
、SiO2
等介质材料通过反应溅射沉积时,靶材表面绝缘区域的电荷积累会引发雪崩式放电,不仅产生喷溅颗粒污染薄膜,还会在靶面留下难以愈合的"伤疤"——电弧斑痕。更棘手的是,随着大面积镀膜设备功率攀升至数十千瓦,单个电弧的能量足以让整个生产批次报废。尽管现代脉冲电源通过周期性极性反转(如双极脉冲BP模式)能部分缓解这一问题,但如何彻底驯服这些"电火花"仍是制造业的痛点。
为此,Gayatri Rane团队在《Surface and Coatings Technology》发表的研究中,设计了一场工业级"电弧擂台赛":让传统BP模式与新兴动态反向脉冲(DRP?)配置同台竞技。这两种技术虽然都采用双磁控管设计,但DRP?通过引入浮动阳极,使两个靶材能同步进行极性反转,将占空比从BP的50%提升至70%以上。研究人员在沉积Al23
的工业镀膜机上,系统调节电弧检测电压阈值(Varc threshold
)和电弧持续燃烧时间(tpersistence
),采集海量电弧事件数据,首次揭示了电源模式与电弧处理参数的协同效应。
关键技术方法包括:1)采用工业级双磁控管溅射系统,以Al2
O3
为测试体系;2)对比BP与DRP?两种电源配置下的电弧特性;3)通过调节Varc threshold
(50%-75%工作电压)和tpersistence
(0-2μs)获取电弧能量分布;4)利用高速数据采集系统记录电压/电流波形。
Arcing behavior, response from power supply, and measuring arc energy
研究团队捕捉到电弧演变的三个阶段:初始电压骤降(I阶段)、持续燃烧(II阶段)和电源干预后的熄灭(III阶段)。关键发现是,电弧能量主要取决于燃烧时间而非瞬时电流,这为参数优化指明方向。
Experimental results and discussion
波形分析显示,DRP?模式在tpersistence
=0μs时,电弧能量比BP模式降低40%。当Varc threshold
设为75%时,两种模式均能实现μs级电弧检测,但DRP?因更高占空比展现出更稳定的等离子体环境。
Conclusion
研究证实:1)高Varc threshold
与低tpersistence
组合可降低90%电弧能量;2)tpersistence
对能量影响远超Varc threshold
;3)DRP?模式凭借同步极性反转特性,在保持70%高占空比的同时,将电弧能量控制在BP模式的60%以下。
这项研究为工业溅射装上了"智能灭火系统"——通过DRP?电源与微秒级电弧处理的配合,不仅延长了靶材寿命,更使绝缘薄膜的缺陷密度降低一个数量级。其意义不仅在于解决Al2
O3
沉积的痛点,更为SiO2
、Si3
N4
等高性能介质薄膜的批量生产提供了普适性方案,推动柔性电子、光伏玻璃等产业向"零缺陷"制造迈进。
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