Ti含量调控Sc2W3O12颗粒增强Ag-Cu-Ti钎料连接SiC/Cu接头的微观结构与性能研究

【字体: 时间:2025年06月25日 来源:Materials Today Communications? 3.7

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  为解决SiC/Cu钎焊接头因热膨胀系数差异导致的应力集中问题,研究人员通过调控Ag-Cu-Xwt%Ti@Sc2W3O12钎料中Ti含量,优化界面反应层组成与形貌。结果表明,Ti含量增加使界面相由TiC转变为TiC+Ti5Si3,剪切强度提升至48.7 MPa,为AgCuTi2钎料的2倍,为负膨胀材料在陶瓷-金属连接中的应用提供理论支撑。

  

研究背景与意义
碳化硅(SiC)陶瓷因其优异的耐高温、耐腐蚀性能,在新能源车、航空航天等领域广泛应用,但与金属铜(Cu)连接时存在热膨胀系数(CTE)严重失配问题。传统钎焊工艺中,SiC/Cu接头因冷却应力易发生界面开裂,制约了其在IGBT模块等电子封装场景的可靠性。如何通过材料设计缓解残余应力成为研究焦点。负热膨胀材料Sc2W3O12的引入虽可调节CTE,但其与活性元素Ti的过度反应会消耗界面成相所需Ti,导致连接强度下降。为此,中国某研究团队系统探究了Ti含量对Ag-Cu-Xwt%Ti@Sc2W3O12复合钎料连接SiC/Cu接头的影响机制,相关成果发表于《Materials Today Communications》。

关键技术方法
研究采用固相法合成Sc2W3O12粉末,通过SEM和XRD表征其形貌与物相;设计不同Ti含量(2-8wt%)的Ag-Cu-Ti钎料,添加6wt% Sc2W3O12颗粒制备复合钎料;在880℃保温15分钟条件下钎焊SiC/Cu接头,利用EDS和剪切试验分析界面微观结构与力学性能。

研究结果

  1. Sc2W3O12粉末特性
    SEM显示粉末呈条状团聚体,平均粒径0.5 μm,XRD证实其为单一斜方晶系结构,为后续复合钎料制备奠定基础。

  2. Ti含量对界面相演变的影响
    低Ti含量(2wt%)时界面仅生成TiC层;增至4wt%后出现Ti5Si3相,界面层由连续平直转变为离散颗粒状,表明Ti活性显著影响反应路径。

  3. 力学性能提升机制
    剪切强度随Ti含量增加呈先升后降趋势,4wt% Ti时达峰值48.7 MPa,较传统AgCuTi2钎料提升104%。界面Ti5Si3相的弥散分布有效缓解应力集中。

结论与意义
该研究揭示了Ti含量通过调控Sc2W3O12/Ti反应平衡实现界面优化的机制:适量Ti(4wt%)既可保证Sc2W3O12的CTE调节作用,又能形成强韧结合的TiC+Ti5Si3复合界面。成果为负膨胀材料在电子封装钎焊中的应用提供了成分设计窗口,Xiao Qiang等作者提出的"活性元素梯度调控"策略对开发高可靠性陶瓷-金属连接技术具有普适指导价值。

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