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缺陷工程调控BiOI的竞争性优势:无需复合材料的优异光电化学传感与光催化性能
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年06月29日 来源:Materials Today Chemistry 6.7
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本研究针对半导体材料在光电化学(PEC)传感和光催化(PCA)应用中存在的可见光吸收率低、载流子复合快等问题,通过精确调控BiOI的缺陷工程(Al3+/Sn2+掺杂),发现Sn掺杂可产生氧空位(OVs),将电荷转移电阻(Rct)降至39Ω,使Cr(VI)检测限达0.13μM,光降解速率常数提升1.9倍。该成果为简化材料设计提供了新范式。
随着工业发展带来的水污染问题日益严峻,开发高效、低成本的水处理技术成为全球性挑战。光电化学(PEC)传感和光催化(PCA)技术因其绿色、可持续的特性备受关注,但传统半导体材料普遍面临两大瓶颈:可见光区吸收率低,以及光生电子(e–)-空穴(h+)对快速复合。为解决这些问题,研究者通常采用构建复杂异质结复合材料的方法,但这往往伴随制备工艺繁琐、成本高昂等缺点。
在此背景下,埃及科学研究团队在《Materials Today Chemistry》发表了一项突破性研究。该团队另辟蹊径,通过原子尺度的缺陷工程调控,使简单半导体BiOI的性能媲美复杂复合材料。研究采用乙二醇辅助溶剂热法合成海胆状纳米结构,通过X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)、拉曼光谱等技术系统分析了Al3+和Sn2+掺杂对BiOI晶体结构的影响,并结合电化学测试揭示了性能增强机制。
关键实验方法
研究通过溶剂热法合成未掺杂(u-BiOI)、Al掺杂(BiOI:Al)和Sn掺杂(BiOI:Sn)纳米材料,采用XRD分析晶体结构变化,XPS验证元素价态,扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)观察形貌,紫外-可见漫反射光谱(DRS)测定带隙,电化学阻抗谱(EIS)评估电荷转移性能,并通过降解刚果红(CR)和强力霉素(DOX)评价光催化活性。
晶体相与几何特性
XRD分析显示Al3+因离子半径(0.535?)远小于Bi3+(1.03?),导致晶格畸变和c轴收缩(从9.139?降至9.096?);而Sn2+(0.93?)因半径接近Bi3+且价态不同(异价掺杂),主要诱导氧空位形成。拉曼光谱在236cm?1处的新峰证实了Sn掺杂产生的OVs。
光电性能与机理
Sn掺杂使带隙(Eg)窄化0.10eV,但带隙减小并非性能提升主因。关键在OVs形成的缺陷态能有效捕获载流子,将Rct从u-BiOI的89Ω降至39Ω。最优的1%Sn-BiOI对CR和DOX的降解速率常数分别达30×10?6和12×10?6W?1min?1,较Al掺杂提升1.7-1.9倍。
PEC传感性能
Sn-BiOI对Cr(VI)的检测限低至0.13μM,稳定性超过800秒,性能与复杂复合材料相当。这归因于OVs促进Cr(VI)吸附和电子转移。
结论与意义
该研究证实:通过精确选择离子半径匹配的异价掺杂剂(Sn2+),可在简单半导体中构建理想缺陷态,实现媲美复合材料的性能。这一缺陷工程策略不仅为BiOI材料设计提供新思路,更启示半导体研究可回归材料本征调控,避免复杂复合带来的成本与稳定性问题。Eman Maher Kira等的工作为水污染治理和环境监测提供了更经济高效的解决方案,对推动绿色技术发展具有重要意义。
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