儿童食管纽扣电池嵌顿的临床管理及并发症风险分析：一项三级医疗中心回顾性研究

来自法国三级儿科中心的研究人员针对儿童食管纽扣电池嵌顿（Button Battery Ingestion, BBI）的高并发症风险问题，开展了一项为期5年的回顾性研究。通过对79例患儿的临床数据分析，发现31例出现食管狭窄、纵隔炎等并发症，其中延迟取出（>12小时）和黏膜坏死是主要风险因素。研究提出标准化管理方案（24小时内内镜取出+术后1周内镜复查）可降低38.2天迟发性食管狭窄风险，为临床实践提供重要依据。

　　

当纽扣电池（Button Battery, BB）卡在儿童食管时，这场与时间的赛跑就开始了。法国儿科团队回溯了2017-2022年间79例患儿的临床数据，发现这些直径仅20mm的"金属小圆饼"竟在12个月内引发31例严重并发症：18例纵隔炎（mediastinitis）、14例食管狭窄（stenosis），更有3例出现致命的气管食管瘘（tracheoesophageal fistula）。

研究揭示三个关键时间窗：电池嵌顿超过12小时、术后1周内镜发现黏膜坏死（mucosal necrosis）、平均38.2^?天出现的迟发性狭窄。就像生物电流引发的"电解风暴"，电池正极接触食管黏膜后会产生强碱性（pH>12）腐蚀环境，这解释了为何20mm锂电（Li-ion）比锌空电池（Zn-air）破坏力更强。

不过曙光已现——研究团队提出的"黄金24小时"方案（内镜取出+术中鼻胃管置入+1^?周复查内镜）将严重并发症风险降低67%。特别值得注意的是，5例食管穿孔（perforation）患儿通过早期干预避免了开胸手术，而3例声带麻痹（vocal cord paralysis）病例提醒临床医生需关注喉返神经损伤风险。这项研究为儿童BBI救治提供了精准的"时间-损伤"关系图谱。