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基于MoS2/a-IGZO/a-Ga2O3异质结的高响应度自供电日盲光电探测器研究
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年07月03日 来源:Applied Surface Science 6.3
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针对自供电日盲光电探测器(SBPD)低响应度的技术瓶颈,研究人员创新性地在MoS2/a-Ga2O3异质结中引入非晶InGaZnO(a-IGZO)中间层,构建了双异质结结构。该器件在零偏压下实现183 mA/W的高响应度,探测率达1.52×1013 Jones,紫外/可见光抑制比达3.98×103,为先进日盲探测系统提供了新策略。
在光电探测领域,日盲紫外波段(200-280 nm)的检测技术对导弹预警、火灾监测等军民应用至关重要。然而传统Ga2O3基探测器需外接偏压,而二维材料异质结又面临响应度不足的困境。针对这一挑战,中国的研究团队在《Applied Surface Science》发表研究,通过能带工程设计出革命性的MoS2/a-IGZO/a-Ga2O3三明治结构。
研究采用射频磁控溅射制备a-Ga2O3和a-IGZO薄膜,结合机械剥离的MoS2构建垂直异质结。通过X射线光电子能谱分析能带排列,利用半导体参数分析仪测试光电性能。
【Fabrication of the a-IGZO/a-Ga2O3 heterojunction】
研究发现a-IGZO中间层将MoS2/a-Ga2O3的单高势垒分解为MoS2/a-IGZO(0.38 eV)和a-IGZO/a-Ga2O3(0.72 eV)双低势垒,使电子隧穿概率提升3个数量级。
【Results and discussion】
器件在254 nm光照下展现突破性性能:零偏压响应度达183 mA/W,较传统结构提升90倍;44/38 ms的快速响应源于双内建电场加速载流子分离;3.98×103的紫外/可见抑制比归因于a-Ga2O3的陡峭吸收边。
【Conclusions】
该研究开创性地将a-IGZO作为"电子水库"和势垒调节层,通过能带工程实现三大突破:双势垒降低载流子输运阻力、高浓度电子储备提升导电性、双内建电场增强分离效率。这项工作为新一代自供电日盲探测器提供了普适性设计范式,推动其在环境监测、空间通信等领域的实用化进程。
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