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综述:飞行时间二次离子质谱在环境分析与成像中的最新进展
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年07月16日 来源:Analytica Chimica Acta 5.7
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这篇综述系统阐述了飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)在环境分析中的突破性应用。作为兼具高表面灵敏度(亚微米级2D成像)和分子识别能力的技术,ToF-SIMS通过质量电荷比(m/z)精准解析,实现了气溶胶界面反应、土壤微塑料、植物-微生物互作等复杂环境过程的原位(in situ)动态监测,为环境界面化学研究提供了全新维度。
ToF-SIMS分析原理与技术革新
飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)通过脉冲离子束轰击样品表面产生二次离子(SIs),基于质量电荷比(m/z)实现分子级检测。其独特的时间飞行(ToF)质量分析器可实现>10,000的质量分辨率,配合静态分析模式,能同时捕获完整分子和碎片信息。相较于能谱(EDX)、X射线光电子能谱(XPS)等传统表面分析技术,ToF-SIMS在保留样品完整性的前提下,兼具纳米级三维成像能力。最新发展的原位液体ToF-SIMS技术,通过微流控芯片(SALVI)实现了挥发性有机物(VOCs)在气-液界面的实时反应监测。
气溶胶研究的分子视角
ToF-SIMS在气溶胶单颗粒分析中展现出独特优势:通过2D化学成像揭示了PM2.5表面有机硫酸酯的非均相分布,深度剖析(depth profiling)则发现黑碳颗粒内核包裹硝酸盐的分层结构。液体ToF-SIMS捕获到α-蒎烯在气-液界面氧化生成二次有机气溶胶(SOA)的动态过程,为大气成核机制提供了直接证据。
土壤与水体的微观探针
针对土壤污染,ToF-SIMS实现了微塑料表面增塑剂(如邻苯二甲酸二乙酯)的原位定位,同时通过63Cu/65Cu同位素比值追踪了重金属迁移路径。在水体分析中,该技术无需前处理即可检测ng/L级有机污染物,如双酚A(BPA)在水-沉积物界面的富集行为。
植物与微生物的化学对话
ToF-SIMS三维成像技术突破了植物细胞壁木质素/纤维素分布的纳米级可视化,在拟南芥根部发现鞘脂类物质介导的微生物定植热点。对海洋微藻(如三角褐指藻)的代谢物成像,则揭示了硅藻壳表面多糖屏障对病毒入侵的防御机制。
未来展望
随着飞行时间质量分析器与团簇离子源的协同优化,ToF-SIMS在环境单细胞代谢组学、污染物跨介质迁移等领域的潜力亟待开发。值得注意的是,该技术对复杂基质中低丰度分子的定量能力仍需与LC-MS/MS等方法联用验证。
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