综述:等离子体增强的S型弯曲基座式Nd3+掺杂TeO2-ZnO波导的光学性能

【字体: 时间:2025年07月19日 来源:Optical Materials 3.8

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  本工作报道了采用射频溅射(RF sputtering)和反应离子刻蚀(RIE)技术制备的Nd3+掺杂TeO2-ZnO(TZ)S型弯曲波导,通过引入金纳米颗粒(Au NPs)实现局域表面等离子体共振(LSPR),在1064 nm波段获得33%的光致发光增强和4.0 dB/cm的相对增益提升,为近红外(NIR)集成光放大器设计提供了新思路。

  

Abstract
研究团队成功制备了基于Nd3+掺杂TeO2-ZnO(TZ)薄膜的S型弯曲基座波导,通过引入金纳米颗粒(Au NPs)实现近红外1064 nm波段的等离子体增强效应。扫描电镜(SEM)显示波导结构完整,原子力显微镜(AFM)测得表面粗糙度仅0.5±0.3 nm。10 μm宽波导传播损耗低至1.0 dB/cm,而2-4 μm窄波导在Au NPs作用下获得约100%的增益提升。

Introduction
碲锌氧化物(TZ)玻璃因其高折射率、宽红外透射范围和低声子能量,成为稀土离子掺杂放大器的理想基质材料。研究团队创新性地将S型弯曲结构与等离子体增强效应结合,解决了传统硅基波导(SOI)难以实现有源集成的难题。前期工作已证实Au NPs可通过局域场增强效应显著提升Tm3+/Ag共掺系统的上转换效率(20)和Nd3+随机激光性能(25)。

Fabrication of S-bend pedestal waveguides
采用直接写入光刻技术在p型硅片上制备波导,S型弯曲结构设计包含250 μm横向偏移和968.25 μm总长度。通过射频共溅射在600 nm高 pedestal上沉积540 nm厚TZ薄膜,Au NPs粒径控制在28-30 nm。反应离子刻蚀(RIE)工艺使波导侧壁角度达到85°,有效降低模式泄漏。

Discussion of results
SEM显示实际波导宽度(4.5 μm)略大于设计值(4 μm),源于各向同性刻蚀工艺。AFM三维形貌图证实Au NPs均匀分布在波导核心层。光谱测试表明:

  1. 10 μm宽波导传播损耗最低(1.0 dB/cm)
  2. Au NPs使4 μm波导在1064 nm处增益达4.0 dB/cm
  3. 内部增益分析显示所有样品均为正值

Conclusion
该工作首次在弯曲波导中实现等离子体增强的Nd3+发光,为高密度集成光子电路提供了新型有源器件方案。未来可通过优化Au NPs分布和波导曲率半径进一步降低传播损耗。

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