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贫铀表面氧化层厚度对银镀层界面微观结构、结合强度及磨损行为的调控机制研究
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年07月20日 来源:Results in Surfaces and Interfaces CS3.9
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为解决贫铀(DU)表面氧化层厚度(hUO2+x)对银(Ag)镀层界面结合强度及耐磨性的影响问题,研究人员通过磁控溅射技术制备Ag/DU体系,系统研究了hUO2+x从<20 nm至~155 nm变化对界面微观结构、剪切应力及摩擦系数(COF)的作用规律。结果表明:hUO2+x增加会导致Ag/UO2+x界面纳米级孔洞和微裂纹形成,使结合强度从~15.2 MPa降至~3.5 MPa;当hUO2+x<40 nm时,Ag镀层展现稳定低COF(~0.26)和优异耐磨性。该研究为核工业材料表面防护涂层设计提供了关键参数依据。
在核工业与材料科学领域,贫铀(DU)及其合金因其优异的机械性能被广泛应用,但其表面易氧化和与防护涂层结合力弱的特性长期制约材料性能。尤其在高摩擦工况下,表面氧化层厚度(hUO2+x)的波动可能导致防护涂层失效,直接威胁构件安全。传统研究多聚焦于涂层本身性能优化,却忽视了界面氧化层的"厚度阈值效应",这一科学盲区亟待破解。
针对这一挑战,中国工程物理研究院的研究团队在《Results in Surfaces and Interfaces》发表了创新性成果。研究通过精确调控DU表面氧化时间(20-120分钟),构建hUO2+x梯度样本(<20 nm至~155 nm),采用磁控溅射沉积5 μm银(Ag)镀层。结合扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)和有限元分析(FEM)等技术,首次揭示了hUO2+x通过界面应力重分布影响镀层性能的微观机制。
关键技术包括:1) 通过干氧氧化法制备hUO2+x梯度样本;2) 采用无偏压磁控溅射避免氧化物结构损伤;3) 结合椭偏仪与X射线衍射(XRD)定量表征hUO2+x;4) 运用球-盘摩擦仪测定摩擦系数(COF);5) 建立Ag/UO2+x/DU三层有限元模型解析应力分布。
3.1 表面微观结构
氧化时间延长使DU表面颜色由黄变棕,但粗糙度(Ra)稳定在4.0-4.5 μm。XRD显示UO2+x峰强随hUO2+x增加而增强,但未观测到峰位移,这与纳米级厚度(<155 nm)相关。
3.2 界面结构
TEM揭示当hUO2+x<20 nm时,界面存在~5 nm Ag-UO2互混区;而hUO2+x≥80 nm时,界面出现纳米孔洞和微裂纹,且尺寸随厚度增加而扩大。
3.3 结合强度与磨损行为
hUO2+x从<20 nm增至~155 nm时,结合强度从15.2 MPa骤降至3.5 MPa,COF从0.26升至0.59。SEM显示hUO2+x<40 nm的镀层磨损轨迹无颗粒残留,而厚氧化层样本出现Ag剥落和DU直接磨损。
3.4 影响机制
FEM计算表明:hUO2+x增加使UO2+x内应力从47.3 GPa降至41.3 GPa,但Ag/UO2+x界面剪切应力从3.1 MPa升至7.4 MPa,这是界面缺陷产生的力学根源。
该研究明确了hUO2+x<40 nm的临界阈值,在此范围内Ag镀层能通过纳米互混区实现强界面结合(>12.8 MPa)和稳定低摩擦(COF~0.26)。这一发现不仅为核材料表面防护提供了精确的工艺控制参数,其揭示的"氧化物厚度-界面应力-服役性能"关联规律,对其它易氧化金属基材的涂层设计具有普适指导意义。特别是在高辐射、高摩擦等极端环境下,该成果可显著延长防护涂层的服役寿命,具有重要的工程应用价值。
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