基于荧光寿命成像(FLIM)与荧光寿命内源比率(FLIRR)分析的瘢痕疙瘩代谢特征研究及其诊断价值

为解决瘢痕疙瘩诊断依赖主观判断的临床难题，研究人员创新性地采用荧光寿命成像技术(FLIM)结合荧光寿命内源比率(FLIRR)分析，首次系统揭示了瘢痕组织中NAD(P)H和FAD的代谢重编程特征。该研究证实瘢痕成纤维细胞存在类似肿瘤细胞的"瓦氏效应"代谢模式，为开发无创诊断工具提供了新型生物标志物。

　　

瘢痕疙瘩作为一种常见的良性纤维增生性皮肤病变，不仅影响美观更显著降低患者生活质量。当前临床诊断主要依赖医生经验性判断，但传统肉眼观察难以准确评估其浸润程度。有趣的是，瘢痕形成过程中异常增殖的成纤维细胞表现出与癌细胞相似的生物能量代谢特征——主要通过糖酵解途径产生ATP（即"瓦氏效应"）。

本研究通过荧光寿命成像技术(FLIM)这一先进光学手段，精准捕捉了瘢痕组织与正常皮肤中内源性荧光团NAD(P)H和FAD的自身荧光特征差异。研究人员创新性地引入荧光寿命内源比率(FLIRR)作为量化指标，成功建立了代谢状态评估体系。这些发现不仅揭示了瘢痕组织的特异性代谢指纹，更重要的是为临床提供了潜在的无创鉴别诊断方案。FLIM-FLIRR技术联用展现出的高灵敏度与特异性，有望推动瘢痕疙瘩诊疗进入精准医学新时代。

关于利益冲突，作者团队声明不存在任何需要披露的利益关系。