综述：单侧唇腭裂患者二次牙槽骨移植后下鼻甲垂直位置与牙槽骨桥形态的关联性研究

本研究通过回顾性分析14例单侧唇腭裂（UCLP）患者数据，首次揭示下鼻甲下垂（ITD）程度与鼻侧牙槽骨桥凹陷（CAB）呈显著正相关（p<0.01），提出术中部分下鼻甲切除（PIT）可改善骨桥形态，为优化二次牙槽骨移植（SABG）手术方案提供新依据。

　　

引言

单侧唇腭裂（UCLP）治疗中，二次牙槽骨移植（SABG）是统一上颌骨段、促进牙齿萌出的关键步骤。自Boyne和Sands于1972年提出该技术以来，髂骨自体骨仍是金标准，但新型材料如重组人BMP-2（rhBMP-2）、羟基磷灰石/胶原纳米复合材料（HAp/Col）等展现出潜力。研究聚焦于影响骨桥高度的两大因素：牙槽裂宽度（WAC）和裂隙侧下鼻甲（IT）垂直位置，但后者对骨桥形态的影响尚未明确。

材料与方法

14例8-11岁UCLP患者（男女各半）纳入研究，其中1例术中联合部分下鼻甲切除（PIT）。通过术前术后后前位头颅侧位片（PA cephalograms）测量ITD和CAB：ITD定义为裂隙侧IT下缘至参考线（Lo-Lo'）距离与非裂隙侧鼻底高度的比值；CAB则为术后裂隙侧鼻腔底部凹陷程度。7例患者术前CT图像用于测量WAC。采用Spearman秩相关检验分析变量关系。

结果

ITD与CAB呈现强正相关（ρ=0.94, p=0.0000026），R²达0.96。PIT病例的CAB值显著低于预测曲线，提示手术干预可改善凹陷。WAC与ITD/CAB均无显著关联（ρ分别为-0.18和0.12），数据呈随机分布。ITD范围0.92-1.16，其中5例IT未下垂至非裂隙侧鼻底水平（ITD<1.0）。

讨论

下鼻甲下垂可能源于腭成形术中鼻底成形不足，其机械性干扰骨移植床制备，导致鼻侧骨桥凹陷。PIT虽能缓解此现象，但需警惕过度切除引发的鼻出血、萎缩性鼻炎等并发症。值得注意的是，WAC（6.9-14.85mm）与手术效果无明确关联，与既往认为>11mm裂宽影响骨高度的观点相悖。

未来方向

需扩大样本量（预计47例）以确立PIT适用阈值。AI辅助CT三维重建技术可提升测量精度，而多学科协作（口腔外科、耳鼻喉科、语音病理学）对手术决策至关重要。

结论

下鼻甲垂直位置是预测SABG后骨桥形态的关键指标，为临床联合PIT提供理论依据，但需平衡功能保留与形态改善。