基于三维参数空间增强晶界标定性能的新型电子背散射衍射(EBSD)标定方法

【字体: 时间:2025年08月27日 来源:Ultramicroscopy 2

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  本文推荐一篇创新性EBSD(电子背散射衍射)标定技术研究,作者团队提出基于三维参数空间的特征三角形匹配算法,通过结合CLAHE(限制对比度自适应直方图均衡)与高斯滤波预处理,显著提升立方氧化钇稳定氧化锆(YSZ)晶界标定精度(38,232个图案仅需18分钟),较商业软件展现更优的晶界一致性,为晶体取向分析提供新范式。

  

Highlight

能带检测

扫描电镜(SEM)高能电子束与高倾角样品相互作用时,低能量损失背散射电子发生布拉格衍射,形成对称的衍射锥(图1)。荧光屏捕获衍射锥交线形成近似平行的菊池(Kikuchi)带边界。

演示

采用FEI Magellan 400 SEM搭配Oxford NordlysNano EBSD探测器,以20 keV电子束采集立方氧化钇稳定氧化锆(YSZ)块体样品的38,232幅菊池衍射图(672×512像素,2×2合并)。图9展示原始图案与标定结果,图10呈现全图标定效果。

讨论

基于Hough/Radon的标定方法中,菊池带检测精度是关键。通过CLAHE(限制对比度自适应直方图均衡)与高斯滤波联用,实现图像增强与降噪(图11),显著提升菊池带检出率。本方法通过三维参数空间扩展特征三角形匹配维度,在YSZ晶界区域展现出优于商业软件的标定鲁棒性。

结论

本研究构建的三维参数空间菊池带标定方法,结合创新性图像预处理方案,将立方YSZ数据集(38,232幅)总标定时间压缩至18分钟,为高噪声材料晶体学分析提供新工具。

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