荧光显微成像中非均匀照明的定量校正方法研究

荧光显微成像的定量分析常受非均匀照明影响。研究人员开发了基于荧光显微镜载玻片的系统性均匀荧光图像校正法(SUFIC)，仅需3张参考图像即可实现高效前瞻性校正。实验表明，该方法使Argo-HM载玻片图像均匀性从27.45%提升至65.30%，FRET三通道图像信背比提升12.3%-20.9%，为小样本荧光定量研究提供了新方案。

　　

照明均匀性对荧光显微成像定量分析至关重要。传统回顾性校正方法在样本图像稀少时效果受限，而前瞻性方法需随成像条件变化重新校准。研究首次从理论层面解析了非均匀照明对荧光共振能量转移(FRET)定量的影响，并通过实验验证。基于荧光显微镜载玻片开发的系统性均匀荧光图像校正法(SUFIC)，在荧光微球、Argo-HM载玻片和表达FRET结构的活细胞实验中表现优异。经SUFIC校正后，Argo-HM载玻片"环状视野"图像均匀性显著提升，FRET三通道图像信背比(SBR)分别提高12.3%、7.9%和20.9%。相较于需100张输入图像的CIDRE和BaSiC方法，SUFIC仅需3张参考图像即可完成高精度校正，为微量样本的定量荧光研究提供了高效解决方案。