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小扁豆抗枯萎病数量性状位点遗传定位:印度头品种抗性机制与病原型特异性解析
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年08月31日 来源:The Plant Genome 3.8
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这篇研究通过构建ILL6002×印度头小扁豆重组自交系(RIL)群体,结合30K SNP芯片基因分型和多环境表型分析,系统解析了印度头品种对Ascochyta枯萎病(AB)两种病原型(Pathotype 1/2)的抗性遗传基础。研究鉴定出9个数量性状位点(QTL),其中染色体2上qAB_2.1位点对病原型1解释60.5%表型变异,同时首次报道了染色体3上抗白粉病(PM)的主效QTL qPM_3.1。标记辅助选择体系为扁豆抗病育种提供了精准工具。
小扁豆抗病遗传机制的系统解析
材料与方法创新
研究团队构建了186个F6代重组自交系(RIL)群体,亲本为抗病品种印度头(Indianhead)和感病材料ILL6002。采用多物种脉冲30K SNP芯片进行基因分型,获得2662个高质量标记,构建总长2117 cM的连锁图谱,平均标记密度达0.8 cM。表型分析设计独具匠心:在人工气候室用P94-24(病原型1)和AlKewell(病原型2)进行苗期接种试验;田间试验选用西澳菌株WAC12393-1和WAE21002-1分别代表两种病原型;意外发生的白粉病(Erysiphe sp.)自然感染被转化为研究机遇。
遗传图谱特征
与CDC Redberry(v2.0)参考基因组比对发现,染色体2、6、7存在大片段倒位。连锁群2(LG2)最长(461.9 cM含516个标记),LG7最短(173.3 cM)。热图分析显示标记排序与物理图谱高度一致,为后续QTL定位奠定基础。
抗病QTL全景
病原型1抗性:
• 染色体2上qAB_2.1位点表现突出:苗期试验LOD值达34.1,解释60.5%表型变异;田间试验仍保持显著(LOD=3.0,PVE=12.6%)。该区域含99个基因,包括3个抗病基因类似物(RGA)
• 次要位点qAB_3.1(LG3)和qAB_5.1(LG5)分别贡献11.5%和8.5%抗性
• 病原型1抗性全部源自印度头亲本
病原型2抗性:
• 呈现双亲贡献模式:qAB_2.2(LG2)和qAB_7.1(LG7)与ILL6002抗性相关
• 田间鉴定出qAB_1.1(LG1)和qAB_3.2(LG3),后者解释29.6%变异
• 病原型2抗性QTL与病原型1位点空间分离
白粉病意外发现
玻璃温室爆发的白粉病自然感染揭示:
• 染色体3上qPM_3.1位点(LOD=11.8)解释24.9%表型变异
• 抗性源于ILL6002,区域含5个RGA但无MLO同源基因
• 与病原型2抗性位点qAB_3.2存在遗传连锁(Rho=-0.213)
抗性机制进化分析
• qAB_2.1与历史标记AB_IH1、ral2共定位,证实印度头抗性在澳大利亚育种系谱中的持续利用价值
• 病原型1抗性可能与AlAvr1-1效应蛋白互作,但印度头不表现典型过敏反应(HR)
• 病原型2抗性机制尚未明确,可能与多基因微效叠加有关
应用前景展望
• 30K SNP芯片标记可直接整合到澳大利亚扁豆育种程序
• qAB_2.1精细定位可缩短候选基因区间至2.6 Mbp
• 白粉病抗性位点为非MLO途径研究提供新线索
这项研究通过创新性的实验设计和多组学整合分析,不仅阐明了印度头品种的多病原型抗性遗传架构,更建立了标记辅助选择的技术体系,为应对不断进化的病原菌群体提供了科学解决方案。
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