光伏组件入射角对可靠性的影响机制研究及加速老化实验启示

为探究光伏组件倾角对长期可靠性的影响，研究人员通过室内加速老化实验模拟不同UV辐照条件。研究发现PERC c-Si微型组件在34/17/6.5 kWh/m2 UV剂量下，Pmax分别下降0.79%/0.61%/0.35%，揭示BO-LID和LeTID是导致ISC和VOC衰减的关键机制，为光伏系统优化设计提供重要依据。

　　

这项开创性研究通过精妙的室内加速老化实验，揭示了光伏组件倾角与可靠性的隐秘关联。科研团队采用PERC（钝化发射极和背面接触）技术的晶体硅微型组件作为研究对象，通过精确控制紫外线（UV）辐照、温度及湿度参数，成功模拟出不同安装倾角对应的户外长期暴露环境。

实验过程中，研究人员运用电流-电压（I-V）曲线测试和电致发光成像技术持续监测组件性能衰减。数据显示，封装材料黄变和光漂白效应主要影响短路电流（I_SC），而令人惊讶的是，硼氧复合体光致衰减（BO-LID）与光热诱导衰减（LeTID）共同作用，不仅导致I_SC下降，还会显著降低开路电压（V_OC）。

研究团队特别模拟了34、17和6.5 kWh/m²三种UV剂量场景，对应不同安装倾角条件。实验结果清晰显示，最大功率（P_max）衰减幅度呈现剂量依赖性，分别为0.79%、0.61%和0.35%。这些发现犹如一盏明灯，照亮了PERC及其他晶体硅光伏技术可靠性研究的未来方向。

需要特别强调的是，这些短期加速老化结果不能简单外推至实际户外长期衰减情况。研究团队建议，后续需通过组件稳定化处理并结合降解模型拟合，才能获得更具指导意义的结论。这项研究不仅为光伏系统优化设计提供了关键数据，更开辟了新型衰减机制研究的新思路。