经颈静脉经导管三尖瓣置换术在心脏植入电子设备患者中的安全性与有效性研究

心脏植入电子设备(CIED)相关三尖瓣反流(TR)临床处理棘手。本研究回顾性分析了2022-2024年间17个国际中心采用LuX-Valve Plus系统行经颈静脉经导管三尖瓣置换术(TTVR)的99例患者（其中36例合并CIED），结果显示两组在手术成功率（91.7% vs 95.2%）、30天死亡率（5.6% vs 4.8%）和TR改善程度（≤1+级：83.8% vs 84.9%）方面无显著差异，证实了该技术在CIED患者中的可行性，为临床决策提供了重要依据。

　　

三尖瓣反流(TR)是心脏植入电子设备(CIED)患者常见的并发症，约30%-45%的CIED患者会出现中重度TR。这种情况主要由导线直接损伤瓣叶、机械牵拉、右心室(RV)几何结构改变等因素引起。传统外科手术风险高，而经导管三尖瓣介入治疗又面临导线干扰等技术难题——导线可能影响瓣膜锚定、增加瓣周漏(PVL)风险，甚至导致导线功能障碍。这些临床困境促使全球17个中心联合开展这项突破性研究。

研究人员采用多中心回顾性队列设计，纳入2022年1月至2024年8月期间接受经颈静脉TTVR的99例患者（36例合并CIED，63例无CIED）。所有手术均在 compassionate-use（同情使用）框架下进行，使用LuX-Valve Plus系统（宁波健世科技）。主要终点包括手术成功率（按TVARC标准）、TR改善程度；次要终点涵盖30天死亡率、NYHA心功能分级改善、CIED功能变化等。统计方法采用t检验、Mann-Whitney U检验等，显著性水平设为P<0.05。

基线特征显示CIED组EuroSCORE II评分更高（7 vs 4.1，P=0.017），合并更多并发症。手术技术方面，91.7%的CIED患者实现TVARC定义的手术成功，与对照组无差异（95.2%，P=0.781）。值得注意的是：

1. 1.

   TR改善与症状缓解

   两组患者术后30天TR≤1+级的比例相当（83.8% vs 84.9%），NYHA I/II级患者比例相似（80.8% vs 83.7%）。但CIED组PVL发生率更高（67.7% vs 24.5%，P<0.001），且87%的PVL位于被"监禁"的RV导线旁。

2. 2.

   手术并发症

   CIED组中转开胸手术率数值更高（8.3% vs 1.6%），但未达统计学意义。3例需二次干预的病例中，1例因间隔锚脱位导致严重PVL，另2例与导线位置相关。

3. 3.

   CIED功能变化

   中位随访3.3个月显示，9.1%（2/22）患者出现导线参数恶化：1例术后4个月RV导线阈值从0.5V升至2.37V（0.4ms），另1例灵敏度下降。但所有病例通过重新编程解决，无需导线更换。

讨论部分指出三个关键发现：首先，经颈静脉途径的径向力非依赖型锚定机制（前瓣夹持器+间隔锚钩）可能减轻对导线和传导系统的压迫；其次，严重PVL（9.7%）虽与症状改善不佳相关（RR=6.33），但其发生率与对照组无差异；最后，延迟性导线功能障碍提示需长期监测。

该研究存在三点局限性：样本量较小、缺乏核心实验室判读、未纳入生活质量评估。但作为首个聚焦CIED患者TTVR的大型国际研究，其价值在于证实：即使在导线干扰的高危解剖中，经颈静脉TTVR仍能安全有效地改善TR和心功能。未来需通过数字模拟优化病例选择，并开展T-TEER、TTVR等技术的头对头比较。论文发表于《JACC: Asia》，为这一特殊人群的临床决策提供了重要循证依据。