双玻隧道氧化钝化接触光伏组件长期电势诱导衰减(PID-p)评估方法学研究

为解决隧道氧化钝化接触(TOPCon)光伏组件在户外光照条件下的长期电势诱导衰减(PID-p)风险问题，研究人员通过对比黑暗环境、170 W/m2紫外光照和800 W/m2稳态太阳模拟光照三种测试方法，发现稳态光照下672小时功率衰减仅-3.18%，证实户外PID-p风险较低，为组件长期性能预测提供了更贴近实际工况的评估方案。

　　

极化型电势诱导衰减(PID-p)正成为隧道氧化钝化接触(TOPCon)太阳能电池组件的潜在威胁。为模拟户外光照条件下的长期PID-p衰减特性，这项研究创新性地对比了三种测试方案：黑暗环境PID测试结合2千瓦时紫外恢复的循环实验、170 W/m²紫外光照下的持续测试，以及最接近真实环境的800 W/m²稳态太阳模拟光照测试。

有趣的是，所有光照测试在96小时后均显示出比黑暗条件更轻微的功率衰减，这意味着TOPCon组件在短期户外运行时PID-p风险可控。经过长达672小时的严苛测试，稳态太阳模拟光照组的功率衰减仅-3.18%，完美诠释了组件在发电时形成的接地电位对电荷积累的抑制作用。

研究还揭示了一个重要现象：过量紫外辐照可能加速封装材料老化，这为测试标准的优化提供了关键依据。通过模拟光照下电荷在氮化硅/氧化铝(SiN_x/AlO_x)钝化界面的动态平衡过程，该研究为建立精准的PID-p长期衰减模型奠定了方法论基础。