负面情绪对工作记忆子进程的神经机制影响：基于事件相关电位的研究

本研究采用线索版参考回任务结合事件相关电位(ERP)技术，首次系统揭示了工作记忆(WM)中门控开启(gate opening)、门控关闭(gate closing)、更新(updating)和替换(substitution)四个子进程的神经时程特征，并发现负面情绪会特异性降低替换行为学成本和探针期的门控开启神经成本，为情绪-认知交互机制提供了新证据。

　　

Highlight

本研究通过线索版参考回任务结合ERP技术，首次在神经层面捕捉到工作记忆四个子进程的动态特征：门控开启在提示期(550-1000ms)激活前中区、在探针期(670-920ms)激活中央顶区；更新过程涉及广泛脑区(630-1000ms)；替换则特异激活顶叶(710-980ms)。有趣的是，负面情绪像"选择性过滤器"般，仅减轻了替换行为学成本和探针期门控开启的神经负荷。

Discussion

行为结果显示所有子进程在反应时(RT)上均存在成本，但仅替换在错误率(ER)显现成本。负面情绪如同"精准调节器"，选择性降低替换的RT成本。ERP数据揭示门控开启具有双阶段激活特性，而门控关闭未显现神经标记——这与PBWM模型预测部分吻合。情绪对门控开启的阶段性影响提示：负面情绪可能通过前额叶-基底节环路(PFC-BG)优先干扰早期信息筛选。

Conclusions

我们证实工作记忆存在四个独立子进程，负面情绪会像"特洛伊木马"般潜入特定进程：既通过消耗认知资源阻碍替换效率，又意外地"松绑"了探针期的门控开启负荷。这些发现为理解情绪-认知交互提供了新的电生理视角，提示情绪调节可能成为改善工作记忆功能障碍的潜在靶点。