利用共振非弹性X射线散射观测磁子微分自旋流揭示自旋热输运新机制

来自前沿领域的研究团队通过共振非弹性X射线散射（RIXS）技术，首次实现对磁性绝缘体中温度梯度驱动磁子携带自旋流的直接测量，突破了传统电学检测方法的局限，为自旋电子学器件开发提供了关键输运参数。

　　

通过共振非弹性X射线散射（RIXS）技术，科学家成功观测到磁性绝缘体中由温度梯度驱动的磁子（magnons）所携带的微分自旋流。这种非弹性散射过程对非平衡状态下磁子分布的微小变化具有独特敏感性，能够检测传统电学方法无法捕捉的纯自旋角动量流动。研究采用弛豫时间近似下的玻尔兹曼方程，精确提取了有限动量下磁子寿命等关键输运参数，为实现基于磁子的自旋电子学（spintronics）器件提供了实验依据，突破了自旋塞贝克效应（spin Seebeck effect）研究中长期存在的检测技术瓶颈。