基于随机符合校正的TDCR方法优化及其在液体闪烁计数中的应用研究

本综述系统评估了Dutsov等人（2020）提出的随机符合校正方法在TDCR（三重符合双符合比）测量中的有效性。通过多核素（包括3H、55Fe等）实验验证，证明该方法能显著提升数据一致性，尤其在长符合分辨时间（tc）下对背景样本和不确定度评估具有关键意义。

　　

亮点

Dutsov等人（2020）提出的随机符合校正方法被全面验证，证明其能显著提升TDCR（三重符合双符合比）测量数据的可靠性，尤其在长符合分辨时间（t_c）下效果显著。

实验细节

研究采用PTB的TDCR-M36系统，搭配CAEN N6751C高速数字化仪（采样率1 GHz）和SoftKAM软件，对多种液体闪烁样本（含³H、³²Si/³²P、⁵⁵Fe等核素）进行列表模式数据采集与分析。

方法论

研究通过区分"纯类型"事件（如pA、pAB等）优化符合事件分类，结合随机符合率（R_acc）校正公式：

R_true = R_obs ? R_acc，

其中R_acc与符合分辨时间（t_c）及单通道计数率相关。

结果

随机符合校正使不同核素（如⁸⁹Sr和¹⁵¹Sm）的活性测量一致性显著提升，尤其在t_c > 100 ns时效果明显。背景样本的校正同样关键，避免了假阳性符合事件干扰。

总结与讨论

该方法不仅优化了TDCR测量的准确性，更为不确定度评估提供了可靠基础。未来需进一步探索其在低活度样本及复杂淬灭场景下的适用性。