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紫外光与热退火协同增强PVA/PbI2突触晶体管的电荷俘获效应及其类脑计算应用研究
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年09月16日 来源:Journal of Materials Chemistry C 5.1
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来自国内的研究人员通过集成紫外光照射与热退火处理,显著增强了PVA/PbI2电荷俘获型突触晶体管的性能。研究发现该处理可诱导PbI2分解生成PbO并调控碘空位(VI)浓度,在87.5 mW cm?2紫外光与150°C退火条件下获得8.56±0.34 V滞后窗口。器件展现出典型突触特性,图像识别准确率达90.1%,为神经形态计算与人工智能领域提供创新解决方案。
电荷俘获型突触晶体管因其优异的非易失性、可控沟道电导和开关性能,已成为神经形态器件领域的研究热点。本研究采用聚乙烯醇(PVA)薄膜平滑碘化铅(PbI2)表面,有效降低表面粗糙度并缓解PbI2/铟镓锌氧(IGZO)异质结处的电荷俘获现象。随着PbI2厚度增加,PVA/PbI2突触晶体管展现出逐步增强的电荷俘获能力,这归因于碘空位(VI)浓度提升。
通过紫外光照射与热退火的协同处理,可显著增强器件电荷俘获能力:该处理诱导PbI2分解生成氧化铅(PbO),从而精准调控VI浓度。在87.5 mW cm?2较低紫外光强度下,器件滞后窗口随温度升高呈现先增后减趋势;而当紫外光强度升至122.5 mW cm?2时,滞后窗口随温度升高单调下降。在87.5 mW cm?2紫外光与150°C热退火优化条件下,器件获得8.56±0.34 V的显著滞后窗口(栅压VG扫描范围:-10至10 V)。
最终制备的PVA/PbI2电荷俘获突触晶体管展现出典型突触特性,经过40次训练周期后,图像识别准确率高达90.1%。这项研究表明该器件在神经形态计算与人工智能(AI)领域具有重要应用价值。
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