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利用铝膜表面等离子体激元色散实现qEELS动量标定的原位方法及其在介电常数测量中的应用
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年09月19日 来源:Microbes and Infection 2.7
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本文介绍了一种基于铝膜表面等离子体激元(SPP)色散拟合的原位标定方法,用于解决低能损区动量分辨电子能量损失谱(qEELS)在纳米尺度光学测量中的动量标定难题。该方法通过拟合SPP色散曲线,可同步实现动量标定和表面层介电常数(εr)的精准测量,对理解材料光学性质与非局域效应具有重要意义。
Section snippets
Experiment: Sample preparation and TEM set up
通过电子束蒸发在新鲜解理的NaCl单晶基底上制备了130 nm厚铝膜,并转移至钼TEM网格。样品在透射电镜(TEM)中保持≥350°C且残余气体压力低于5×10?8 torr,以防止污染堆积。
Detection of a bulk plasmon peak and SPP dispersion curves
首先从谱图中识别体等离子体激元(BP)峰(铝为15.0 eV),随后手动选取SPP色散曲线区域(图3a)。通过提取每个动量(y方向)对应的能量损失(x方向)强度最大值,获得SPP色散数据。能量轴通过已知BP能量标定,动量轴则通过SPP色散拟合实现标定。
The effect of sample tilt
研究了样品倾斜(-6°至+13.3°)对SPP色散的影响。以0°倾斜测得的介电常数(εr)为基准,计算其他倾斜角度下的上下分支动量值(qupper和qlower)。结果显示,εr在倾斜范围内变化保持在±11%内,表明该方法对倾斜不敏感。
Detection of SPP dispersion curve and fitting
实验SPP强度剖面(图4)可通过三个高斯峰拟合:分别对应上分支SPP、下分支SPP及零损失峰(ZLP)的角向展宽。ZLP的存在使得SPP峰位需通过拟合精确提取,而非直接取强度最大值。
Discussion
本研究提供了qEELS动量标定的实用方法,并可同步获取表面层介电常数(εr)。通过该方法成功区分了氧化层与碳污染层,印证了表面化学状态对SPP色散的影响(如Stern和Ferrel及Batson等人所述)。
Conclusion
针对价带区qEELS的微小角度范围(300 keV电子能量下约±30 μrad),本研究提出了一种基于金属/半导体样品表面等离子体色散拟合的原位标定方法。相较于衍射光栅标定,该方法无需特定取向安装,且可与样品结构分析(如电子衍射、化学图谱)同步进行,为关联材料光学与结构性质提供了新途径。
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