低剂量氧化铜纳米颗粒增强雄性小鼠边缘下皮层内在兴奋性并改善恐惧消退记忆

本研究首次揭示单次腹腔注射低剂量氧化铜纳米颗粒（CuO-NPs）可通过血脑屏障，显著增强小鼠恐惧消退记忆。通过全细胞膜片钳技术证实CuO-NPs提升边缘下皮层（IL）锥体神经元兴奋性，降低峰后超极化电位，并增加NMDA受体介导的突触电流，为纳米材料治疗创伤后应激障碍（PTSD）提供新机制。

　　

关键发现

通过透射电子显微镜（TEM）我们证实，CuO-NPs在给药后24小时内可有效跨越血脑屏障。利用线索性恐惧条件反射模型，我们发现单次腹腔注射CuO-NPs显著增强恐惧消退记忆——表现为实验组小鼠的冻结行为较对照组明显减少。膜片钳分析进一步表明，CuO-NPs能提高边缘下皮层（IL）锥体神经元的兴奋性，并持续降低快、中、慢三种类型的峰后超极化电位。此外，研究证明CuO-NPs可增强N-甲基-d-天冬氨酸受体（NMDA受体）介导的突触电流，提示边缘下皮层突触可塑性得到提升。

意义

我们的发现为CuO-NPs调控恐惧消退记忆的潜在应用提供了新的见解。

讨论

氧化铜纳米颗粒（CuO-NPs）已成为神经科学中颇具前景的工具，为治疗神经系统疾病和提升认知功能提供了创新方法。虽然既往研究已探讨过低剂量CuO-NPs对海马体的神经保护作用及其改善学习记忆的效能，但其在恐惧消退记忆中的潜在作用及机制仍属未知。本研究首次证明，单次施用CuO-NPs……