氧空位诱导非晶三氧化钼中绝热小极化子跃迁及其电子传输调控
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时间:2025年09月29日
来源:Materials Science in Semiconductor Processing 4.6
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本文揭示了非晶MoO3-x中氧空位(OV)诱导形成高局域化小极化子的机制,通过变温电导测试发现两种绝热极化子跃迁模式(活化能0.3eV和0.8eV),证实其与氧空位路径形成能相关,为调控极性子传导和增强电荷稳定性提供了新策略。
非晶MoO3中约4%浓度的氧空位导致两种绝热小极化子跃迁机制:在220K以下为莫特极化子变程跃迁(VRH),220-450K为热激活绝热跃迁。活化能值(0.3eV和0.8eV)证实极化子沿不同氧空位路径跳跃,这些路径与空位形成能直接相关。
本研究证明氧空位引起的离子混排可在MoO3基质中形成极端局域化的小极化子(半径小于原子间距)。两种极性子跃迁机制分别对应层内/层间氧空位路径,其中低于θD/2(220K)以VRH主导,中温区为绝热跃迁,高温区(>450K)受热离子发射控制。通过调控氧空位密度可实现极性子传导的可编程化,为先进光电器件提供增强的电荷稳定性解决方案。
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